磁阻法测厚仪/测厚仪 返回列表页

磁阻法测厚仪/测厚仪    型号：DP-HCC-24

可快速无损地测量导磁材料表面上非导磁覆盖层厚 度。例如：铁和钢上的铜、锌、镉、铬镀层和油漆层等。由于集成电路和微处理器的应用，使本仪器具有操作简 单、使用方便、稳定性好、测量度的优点。仪器具有数理统计能，可直接显示测量的平均值、zui大值、zui小 值、标准偏差及测量次数等统计数据。
磁阻法测厚仪 采用电磁感应原理行测量，符合标准 ISO2178和家标准GB4956。当探头与覆盖层接触时，探头和磁性基体构成闭合磁回路，由于非磁性覆盖层存在， 使磁路磁阻增加，磁阻的大小正比于覆盖层的厚度。通过对磁阻的测量，经电脑行分析处理，由液晶显示器直接 显示出测量值
磁阻法测厚仪 参数
1）测量范围： 0μm～1200μm。
2） 示值误差： ± （1～3%H+1μm） ， H为被测涂层厚 度。
3）分 辨 率： 1μm。
4）zui小测量面的直径： φ10 mm。
5）显 示： 4位LCD显示测量的平均值、zui大值、zui小值、标准偏差和测量次数，同时示仪器的作状态及电池使用情况。
6） 电 源：节6F22型9V电池。
7） 外形尺寸： 160mm×80mm×30mm。
8） 质 量：约250g。
9）使用环境：温度0℃～40℃；相对湿度不大于90%。

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