DP-CH-1-ST-台式薄膜测厚仪/薄膜测厚仪//_电力产品类-北京亚欧德鹏科技有限公司

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产品型号DP-CH-1-ST

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厂商性质生产商

所在地北京市

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更新时间：2016-10-15 15:44:00浏览次数：1280次

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台式薄膜测厚仪/薄膜测厚仪型号：DP-CH-1-ST

测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜或薄片）。本测厚仪执行标准GB/T6672-2001标准。

主要参数：
2.

测厚仪

商品名称：涂层测厚仪/测厚仪
商品型号：DPT220

涂层测厚仪/测厚仪 型号：DPT220

【商品简介】

本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆盖层的厚度（如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）
可行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差行修正；
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
具有两种作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）
具有删除能：对测量中出现的单个可疑数据行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便行新的测量；
设有五个统计量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、
测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；
具有米、英制转换能；
具有打印能，可打印测量值、统计值；
具有欠压示能；
操作过程有蜂鸣声提示；
具有错误提示能；
具有自动关机能。

测头类型		F
测量原理		磁感应
测量范围		0-1250um
低限分辨力		1µm（10um以下为0.1um）
探头连接方式		体化
示值误差	点校准（um）	±[3%H+1]
	两点校准（um）	±[（1～3）%H+1]
测量条件	zui小曲率半径（mm）	凸 1.5 凹9
	基体zui小面积的直径（mm）	ф7
	zui小临界厚度（mm）	0.5
温湿度		0~40℃ 20%RH～90%RH
统计能		平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）
作方式		直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）
测量方式		连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
上下限设置		无
存储能力		15 个测量值
打印/连接计算机		可选配打印机/不能连接电脑
关机方式		自动
电源		二节3.6V镍镉电池
外形尺寸		150×55.5×23mm
重量		150g

基本配置:主机,标准片套（50um 100um 200um 500um 1000um）,铁基体,充电器.

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