当前位置:北京亚欧德鹏科技有限公司>>科研教学类>> DP-JD天平固体密度测试装置 天平密度测试装置
天平固体密度测试装置 天平密度测试装置 型号:DP-JD
产品特点:密度测量装置与电子天平结合,测量度可达千分之。操作简单,可实现固体密度的度测量。
2.
韦氏比重天平/比重天平/韦氏天平/电子天平 型号:DP-D-5
本天平适用于电子、橡胶、食品、纸、机械等到行业,对于树脂、金属、玻璃以及各种化学溶液等材料的测定. 参数
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