HAST 老化试验箱评估电路板性能变化试验方法

HAST 老化试验箱评估电路板性能变化试验方法

一、前言：

随着电子产品在复杂环境下的应用日益广泛，电路板作为其核心组件，其在高温、高湿度环境下的可靠性备受关注。HAST（Highly Accelerated Stress Test）老化试验箱能够模拟环境条件，评估电路板的性能变化。

二、试验准备：

1.样品选择：选取具有代表性的电路板，记录其初始电气性能参数（如电阻、电容、电感值等）、外观特征（包括焊点完整性、元件安装情况等），并对电路板进行清洁处理，确保无杂质、灰尘等影响试验结果的因素。

2.设备检查：确保 HAST 老化试验箱功能正常，检查其温度传感器、湿度传感器、压力控制系统、加热与加湿装置以及安全保护装置是否处于良好状态。对试验箱进行预热或预运行，使其内部环境达到稳定的初始状态（如常温、常湿），并校准相关参数，确保显示数值与实际环境参数的误差在允许范围内。

3.辅助器材：准备好测试连接线缆、数据采集设备（如示波器、万用表、数据记录仪等）以及用于固定电路板的夹具，保证测试连接可靠，夹具不会对电路板造成额外的应力或损伤，同时数据采集设备经过校准且能够准确记录所需的各项性能数据。

三、试验设置：

将以上设定好的温湿度条件、时间参数以及升温、保湿、降温等过程的变化速率输入 HAST 试验箱的控制系统，确保试验箱能够按照预定的程序自动运行，并在每个阶段保持稳定的环境条件。同时，设置好数据采集的时间间隔和触发条件，使其能够同步记录电路板在试验过程中的性能变化数据。

四、试验操作：

1.样品安装：将待测试电路板小心地放置在试验箱内的专用夹具上，确保电路板与夹具接触良好且固定牢固，避免在试验过程中因振动或位移而导致连接松动或损坏。连接好测试线缆，使电路板与外部的数据采集设备形成完整的测试回路，但要注意线缆的布置不应影响试验箱内的温湿度均匀性，也不能对电路板造成额外的拉扯或压迫。

2.启动试验：关闭试验箱门，确保密封良好后，启动 HAST 老化试验箱。观察试验箱的运行状态，确认加热、加湿、压力调节等系统开始正常工作，各项参数逐渐上升并趋近于设定值。同时，启动数据采集设备，开始记录电路板的初始性能数据作为基线参考。

3.过程监控：在试验过程中，通过试验箱的观察窗或监控系统，定期检查电路板的外观是否有异常变化（如元件变色、冒烟、焊点开裂、起泡等），同时密切关注试验箱的温湿度和压力数值是否稳定在设定范围内。若发现异常情况（如环境参数失控、电路板出现明显损坏迹象等），应立即停止试验，并记录下故障发生的时间和现象，以便后续分析原因。

4.数据记录：按照预设的数据采集时间间隔，持续记录电路板的各项性能参数（如电气性能的变化值、可能出现的信号失真情况、传输特性的改变等）。确保数据记录的准确性和完整性，将数据存储在合适的存储介质中，并做好备份，防止数据丢失。

五、试验后检测：

1.样品取出：在试验结束后，等待试验箱内的温度和湿度自然下降至安全范围内（接近室温、常湿），然后小心地打开试验箱门，取出电路板。避免因温度骤变或湿度差异导致电路板表面产生冷凝水，进而影响测试结果或对电路板造成二次损伤。

2.外观检查：对取出的电路板进行全面的外观检查，详细记录元件的损坏情况（如破裂、烧焦、脱落等）、焊点的完整性（是否有虚焊、脱焊、桥接等现象）以及电路板表面的涂层、标识等是否有褪色、剥落或起泡等问题。使用高分辨率的显微镜或放大镜对关键部位（如焊点、引脚与焊盘的结合处、微小元件等）进行仔细观察，拍摄清晰的照片作为外观检查的记录资料，以便与试验前的状态进行对比分析。

3.性能测试：使用测试设备对电路板的各项性能指标进行再次测试，包括但不限于电气性能（如电阻、电容、电感的测量，信号传输的完整性、电源完整性等）、功能测试（确保电路板能够正常实现其预定的功能，如数据处理、信号转换、控制逻辑等）以及可靠性指标（如绝缘电阻、耐压强度等）。将测试结果与试验前记录的初始性能参数进行对比，计算各项性能指标的变化率，评估电路板在经过 HAST 老化试验后的性能衰减程度。