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产品简介
详细介绍
总评
用于品种多量少的小型镜片的生产现场上的快速品质检查。（KIF-10A-DW）
检查不同规格的镜片时不需要使用配套夹具，用于品种多数量少的镜片检查，只需将镜片放置其上，如同使用显微镜一样的简单操作，便可轻便迅速地对应品质检查。
主要用途：
· 评价镜片研磨面的面精度。
· 评价塑料成型件的面精度。
· 评价各种小型球面、平面部件的面精度。
采用635nm 波长激光，顺利引入生产线。（在线）
因与目前在斐佐型干涉仪上所使用的632.8mm 激光波长极为相似，干涉条纹的条纹感应度也与其近似。可顺利应用到现有的检查加工工程中。（在线）
品种丰富、种类齐全的参照镜
参照镜采用1英寸的紧凑结构，其种类与KIF-202L系列相比较也毫不逊色。
KIF-10A-DW规格
检查方式 斐佐型干涉方式 口径 Φ25.4mm（1英寸） 倍率 1倍 参照镜面精度 λ/15（球面以及平面） 光源 半导体激光（635nm）2级产品激光输出功率为0.8mw以下。 电源 一次电源AC100~240V 50/60Hz 本体供给电源 DC12V 被检物大小 R： 140mm~113mm*、直径~约110mm 本体外形尺寸 180（W）×230（D） ×440（H）mm 本体重量 约5.2kg 主要选件 3轴受台、2轴受台、小型液晶显示器（2.5型、5.6型）、参照镜、测长机组、减衰过滤器AF、孔径转换器Φ25-Φ6