电子测试冷热冲击测试箱

一、电子测试冷热冲击测试箱简介：
冷热冲击测试箱又命名为冷热冲击试验机厂家，是专业用于电池、耳机、芯片、PCB等组件和原材料在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度, 藉以在zui短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适用的对象包括金属, 塑料, 橡胶, 电子，科研单位，高等院校，质量检测院等，可作为其产品改进的依据或参考。
 
二、电子测试冷热冲击测试箱应用标准 ：

1.GB/T 10589-1989低温试验箱技术条件
2.GB/T 11158-1989 高温试验箱技术条件
3.GB/T 10592-1989 高低温试验箱技术条件
4.GB/T 2423.1-2001 试验A：低温试验方法
5.GB/T 2423.2-2001试验B：高温试验方法
6.GB/T 2423.22-2002试验N:温度变化试验方法
7.GJB150.3-1986高温试验
8.GJB150.4-1986低温试验

三、电子测试冷热冲击测试箱控制系统：
韩国*TEMP2000S
高分辨?彩色触摸屏接口
交互式参数输入方式
支持英文，中文
提供内置SMPS的I/O RELAY BOARD-接线简化和节省成本
高精確、高信任度
基于PC的方便监控
方便设定多达33种的输出（内置计时器）方式
支持利用USB存储器-可代替记录器
内置基于*的PID算法的自动调谐功能
提供强有力的通讯环境和支持99台多分支结构
的Fuzzy功能和ARW启动-抑制超程
標準RS-232C、 RS-485通訊介面

四、技术参数：

⑴内部尺寸：D40×W35×H36 cm

⑵外部尺寸：D140×W120×H172 cm

⑶试验槽温度使用范围：－40℃～＋150℃(指风冷式在室温＋26℃,空载时)

⑷高温槽温度设定范围：＋60℃～＋200℃

⑸高温槽升温时间:RT（室温）～＋200℃约需35min（室温在＋10～＋30℃时）

⑹低温槽温度设定范围：－60℃～0℃

⑺低温槽降温时间:RT（室温）～－60℃约需75min

（室温在＋10～＋26℃时）

⑻温度波动度：±1.0℃

温度均匀度:±2.0℃

⑼冲击归复时间：－60～＋155小于5min（空载）

(高低温冲击恒温时间各为30min以上)
  
 郑重承诺！：2年免费保修，免费送货安装，安排工程来到现场调试及技术培训，终生维护.