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数字式四探针测试计 四探针测试计 半导体四探针检测仪

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产品型号DL10-1934B

品       牌

厂商性质生产商

所  在  地北京市

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更新时间：2024-05-21 11:58:39浏览次数：1568次

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产品简介
测量范围
电阻率：10-2～102Ω-cm；
方块电阻：10-1～103Ω/□；
电阻：10-3～9999Ω
可测半导体材料尺寸
直径：Φ15～100mm；
长（或高）度： ≤400mm

详情介绍

数字式四探针测试计   四探针测试计  半导体四探针检测仪   

型号:DL10-1934B

测量范围 

电阻率：10-2～102Ω-cm；

方块电阻：10-1～103Ω/□；

电阻：10-3～9999Ω 

可测半导体材料尺寸 

直径：Φ15～100mm； 

长（或高）度： ≤400mm 

外形尺寸 

主机 170mm（D）×130 mm（W）×50mm（H） 

电源 

功 耗：<1W； 

电源适配器：

输入:220V±10% 50Hz； 

输出:DC5V±10% 

 

 

 

北京北信未来电子科技中心

：王华

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：www.lcs168.com

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