38DL PLUS测厚仪是一款开创*声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可地适用于几乎所有*声测厚应用，而且与所有双晶和单晶探头*兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其的壁厚测量。

38DL PLUS的标准配置带有很多既强大又易于使用的测量功能，以及一些于某些特殊应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求，可以抵御极其潮湿或多沙尘的严酷的环境条件。彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在*的黑暗中都能具有的可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问所有功能。

38DL PLUS测厚仪参数规格：

测量
双晶探头测量模式	从激励脉冲后的延时到*个回波之间的时间间隔。
穿透涂层测量模式	利用单个底面回波（使用D7906-SM和D7908探头），测量金属的实际厚度和涂层厚度。
穿透漆层回波到回波测量模式	在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。
单晶探头测量模式	模式1：激励脉冲与个底面回波之间的时间间隔。模式2：延迟线回波与个底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。模式3：在激励脉冲之后，位于*个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。氧化层模式：可选。多层模式：可选。
厚度范围	0.080毫米～635.00毫米，视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。
材料声速范围	0.508 mm/μs～13.998 mm/μs
分辨率（可选择）	低分辨率：0.1毫米标准分辨率：0.01毫米高分辨率（可选项）：0.001毫米
探头频率范围	标准：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（可选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）

一般规格
工作温度范围	-10°C～50°C
键区	密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈。
机壳	防撞击、防水、装有密封垫的机壳；机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。
外型尺寸（宽 x 高 x 厚）	总体尺寸：125毫米x211毫米x46毫米
重量	0.814公斤
电源	AC/DC适配器，24 V；锂离子电池，23.760 Wh；或4节AA辅助电池。
锂离子电池供电时间	工作时间：较为少12.6小时，一般14小时，较为多14.7小时。快速充电：2小时到3小时。
标准	设计符合EN15317标准。

显示
彩色透反VGA显示	液晶显示，显示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米
检波	全波、RF波、正半波、负半波

输入/输出
USB	1.0从接口。
RS-232	有。
存储卡	较为大容量：2 GB外置MicroSD存储卡。
视频输出	VGA输出标准。

内置数据记录器
数据记录器	38DL PLUS通过标准RS-232串口或USB端口识别、存储、回放、清除、传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。
容量	475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形。
文件名称、ID编码及注释	32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码，每个位有四个注释。
文件结构	9个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构。
报告	机载报告总结了数据统计、带有位置信息的较为小值/较为大值、

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