TESCAN S8000G扫描电镜是一款 FIB-SEM 系统，满足现今工业研发和学术界研究的所有需求，它可以提供的图像质量，可完成复杂的纳米操作并保证的精度和操作灵活性。

TESCAN S8000G扫描电镜配置了BrightBeam™ 镜筒，真正的无磁场超高分辨（UHR）可以实现各种分析，包括磁性样品的分析，以及在 FIB 操作时 SEM 的实时监测。新型镜筒中的电子光路设计增强了分辨率，特别适合低束流时对电子束敏感样品和不导电样品的分析。另一方面，创新的 Orage™ Ga FIB 镜筒配有的离子光学系统和设计的 OptiGIS™气体注入系统，使得 TESCAN S8000G 成为了样品制备和纳米加工的仪器。

模块化、基于工作流的软件确保了在所有应用中都能进行操控，不需要在复杂的技术之间进行取舍，用户界面友好。TESCAN S8000G 适用于的 FIB-SEM 应用，适合那些在科技领域追求更好的理解和突破的人员。