CMX DL+无损检测超声波测厚仪 返回列表页

CMX DL+无损检测超声波测厚仪多层厚度The CMX DL+ 测厚仪不仅有MVX的所有功能，而且还有同时测量金属基体和表面非金属涂层厚度的能力。CMX DL+无损检测超声波测厚仪产品特点：

• 测量方式（仅测量基体厚度、同时测量基体和涂层的厚度、仅测量涂层厚度）

• 显示模式（数字式显示、B扫描显示、A扫描显示<仅cmx>）

• 增益可调节：超低、低、中、高、超高

• 增益值可到110dB

• 自动增益控制（AGC）

• 时间增益校正（TCG）

• 探头自动识别，自动调零和温度补偿

• 最大值、最小值显示

• 可存储64个用户参数设置

• 高速扫查（50次/秒）

• 高达140HZ的脉冲重复频率

• B扫描显示用于显示被测材料的截面形状

• A扫描波形显示和RF显示（CMX DL+）

• 差值测量模式

• 高速扫查功能可用于快速找到壁厚的最小值

• 上/下限声光报警功能

• 数据存贮：可存储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和B扫描图形及参数

• 可通过软件与计算机进行数据交换，方便用户打印检测报告

• 技术参数：