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四探针测试仪 型号:SDZ-SZT-2
1．主机采用界的电路，所测数值更、更快、更准（代为传统式电路，缺点：体积大，速度慢，元器件繁多导致影响机器寿命）。
2．屏幕采用液晶显示（代为只有数码管显示）。
3．匹配电脑接口及软件，让操作简便明了化（可直接连接电脑，电脑行自动运算根据输入厚度，自动比照并修正系数，使被测结果更，数据可储藏或删除，利于使用方保存记录）。
4．二代的测试架采用自动传感装置，接近被测物体时实行自动减速，避免了被测物体的损耗和探头的磨损（于内市场上何款产品的测试架，老代为手动）。
5．本仪器电压档为自动调整,电档为半自动.不清楚被测物体阻值时,可按菜单选择100MA电档行自动搜索（电可由至低自动搜索,不能由低向搜索）,当选择好电档后,电压会自动行调整.
6. 本仪器测试电阻、电阻率、方块电阻时，标准系数为机器自带自调，另外手调整，省去了原仪器的诸多麻烦。
7．测试探头为钨针，市场上多为速钢针。
8．每次测量均有内置计算机自动行温度补偿及电压电矫正。
9．整机测量标准不确定度：≤ 2%（内其它厂家误差为≤ 5% ）
参数：
1． 测量范围：
电阻率：10的-4次方~10的5 次方Ω-cm
方块电阻：10的-4次方 ~10的5次方Ω/□
电阻：10的-4次方 ~10的5 次方Ω
2． 可测半导体材料尺寸
直径：5mm-130cm
长度：≤400mm
3． 测量方法：
轴向、断面均可
4． 显示方式：41/2,数显,性、过载自动显示，小数点、单位自动显示。
5． 恒源：
（1） 电输出：直电0~100 mA连续可调。
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA
（3） 误差：±0.5%读数±1个字
6.四探针测试探头
（1） 探针间距:1mm
（2） 材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0%
7.电源:220±10% 50Hz或60Hz 耗:＜35W
8.外型尺寸:260×160×215mm
不带电脑接口
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