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世界上*台纳米级“温度计”已开发

时间:2013-7-1阅读:1084
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       据物理学家组织网2013年6月中旬报道,一个由美国密歇根大学等单位研究人员组成的

小组开发出一种纳米级的“温度计”,能从原子尺度测量热散逸,并建立了一种框架,来解

释纳米级系统的热散逸现象。这一成果为开发体积更小、功能更强的电子设备扫除了一项重要技

术障碍。相关论文发表在《自然》杂志上。
       雷迪实验室博士生李宇哲(音译)等人开发出一种技术,特制了一个稳定的原子设备和一种纳

米大小的温度计,将二者结合做成一种圆锥形工具。在分子样本线路中,圆锥形工具和一片黄金

薄片之间能捕获一个分子或原子,以研究其热散逸。他们通过实验显示了一个原子级系统的变热

过程,以及这一过程与宏观尺度变热过程的不同,并且设计了一个框架来解释这一过程。

     雷迪解释说,在可接触的宏观世界里,电子天平当电流通过导线时,整个导线都会发热,与其相连

的所有电极也是如此。相比之下,当“导线”是纳米大小的分子,而且只和两个电极接合时,温

度升高主要发生在二者之一中。“在原子级设备中,所有热量集中在一个地方,很少会到其他地

方。”

  雷迪说:“我们的研究还进一步证实了物理学家列夫·朗道提出的热散逸理论的有效性,并

深入理解了热散逸和原子尺度的热电现象之间的关系,这是从热到电之间的转变。”
 

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