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南京拓普思瑞电子科技有限公司>> QUC-200数显式磁性测厚仪

QUC-200数显式磁性测厚仪

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更新时间:2016-04-09 23:31:24浏览次数:782

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产品简介

QUC-200数显式磁性测厚仪,

详细介绍

QUC-200数显式磁性测厚仪

执行标准: GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74 ,本仪器适于测定磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。于铁磁性材料表面上非磁性涂镀层厚度的测定。
 
QUC-200数显式磁性测厚仪主要技术参数:
1 测量范围: O-200μm
2 测量精度:±( 0.7μm+3%H )*H为标准厚度。
QUC-200数显式磁性测厚仪
 

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