XGS-9高斯光束参数测量及透镜变换实验系统_-天津港东科技股份有限公司

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本实验研究高斯光束的特性参数，以及高斯光束通过薄透镜的传输和变换性质，重点对光束质量的评价和测量进行了阐述。建立了一套以CCD为光斑探测器，结合计算机和测量软件的光斑测量系统。测量了He-Ne激光器的光束光强分布，计算出高斯光束参数，并用双曲线拟合法测量出质量因子。

实验内容：

1、高斯光束参数测量实验，光斑直径，发散角，束腰半径，能量分布图形。

2、高斯光束的变换和参数测量。

配置和参数

1、光源：He-Ne激光器，波长632.8nm，输出功率>1.5mW

2、光具座：硬铝型材导轨，长1.2m

3、光电探测器：进口工业黑白CCD摄像机，1/3" CCD，分辨率1024×768，像素尺寸4.65μm

4、透镜：f=45，f=50，f=75，f=100各1片

5、衰减片系统3套。

产品特点

1、本实验属于激光原理系列实验，契合光电信息实验室建设需要

2、实验系统做了精简设计，操作更加方便。

3、采用德国进口工业CCD摄像机，灵敏度更高，动态范围更宽。

4、带软件开发包，方便客户基于CCD相机进一步开发新的实验。

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