近期,安东帕原子力显微镜全新上市,与安东帕流变仪、小角X-射线衍射仪以及纳米粒度仪等一起丰富了纳米表征测量的产品线组合。
9月,安东帕特邀Betty Petrillo博士来到上海、北京为用户带来颗粒度和Zeta电位巡回技术讲座。现火热报名中,安东帕邀您参加!
Seminar主题
How to Measure Particle Size and Zeta Potential Better
怎样更好地测试颗粒度和Zeta电位
Dr. Betty Petrillo
Betty Petrillo博士
Product Manager, Anton Paar GmbH
产品,奥地利安东帕公司
到目前为止,颗粒样品zui重要的物理特性就是颗粒粒度。粒度分布测量通常用于多个行业,颗粒度常常是许多产品制造过程中的关键参数。粒度分布对材料性能有着直接的影响。
Zeta电位通常用于确定固液界面之间的电荷。它是胶体悬浮液稳定性的重要指标。了解zeta电位对优化工艺过程和质量控制有着重要意义。
在此次讲座中,我们会涉及颗粒度和zeta电位的原理以及应用。并为您介绍代表现代技术的颗粒分析仪:LitesizerTM系列纳米粒度及zeta电位分析仪。
So far, particle size is the most significant physical characterization for particle. Particle characterization is widely used in many industries. Particle size is usually the key parameter in producing process. Particle size dispersion has a direct effect on material properties.
The zeta potential is commonly used to determine the charge at the solid-water interface. It’s a key indicator of the stability of colloidal dispersions. Knowledge of zeta potential is important for optimizing processes and for quality control.
In this seminar we cover particle size and zeta potential principle and application. And introduce to you a newest modern technology instrument for particle characterization: the Litesizer™ series particle analyzer.
北京站
时间:
Monday, Sept 4, 2017
2017年9月4日,星期一
地点:安东帕中国北京办公室,朝阳区八里庄陈家林甲2号尚8里文创园A座202室
上海站
时间:
Wednesday, Sept 6, 2017
2017年9月6日,星期三
地点:安东帕中国上海办公室,合川路2570号科技绿洲三期2号楼11层
会议日程
9:30-9:45
| Introduction to Anton Paar and PC product line 安东帕公司和PC产品线介绍 |
9:45-10:45 | LitesizerTM series instrument principle LitesizerTM系列仪器原理讲解 |
10:45-11:00 | Tea break 茶歇 |
11:00-12:00 | LitesizerTM series instrument application LitesizerTM系列仪器应用案例 |
12:00-13:30 | Lunch break 午餐 |
13:30-15:00 | Instrument demo 仪器演示 |
15:00-15:15 | Tea break 茶歇 |
15:15-16:30 | Customer operation and measurement 客户操作和测试 |
:021-6485 5000
:市场部
下载回执并邮件至:marketing.cn@anton-paar.com
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9月*日怎样更好地测试颗粒度和Zeta电位”交流会(**专场) - **公司/机构名称或 传真至:021-6485 5668
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