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韩国先锋X-ray膜厚仪

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更新时间:2017-04-27 10:25:51浏览次数:847

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产品简介

韩国先锋X-ray膜厚仪荧光X-射线仪器的测量原理
物质经X射线或粒子射线照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。

详细介绍

韩国先锋X-ray膜厚仪Micro Pioneer XRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。只需要10-30秒即可获得测量结果, zui小测量面积为直径为0.1mm的圆面积; 测量范围:0-35um;

 

韩国先锋X-ray膜厚仪品应用

产业

产品

应用例

IC封装

导线架,BGABCCFlip-Chip,散热片

Sn-Pb/xx,Ag/xx,Au/Ni/xx,Au/Ni-P/xx,Ni-P/xx,Cr/xx,Sn/xx,

Au/Pd/Ni/Cu.Solder Bump

导线架

导线架

Ag/xx

PCB  FPC

BGA,TBGA,TAB

Sn-Pb/xx,Au/Ni/xx,Au/Ni-P/xx,Sn/xx 

含溴的双层PCB

端子工业

连接器

Sn-Pb/xx, Au/Ni/Cu, Ni-P/xx ), Ag/xx, Ni/Cu

被动组件

芯片电阻,电容,电感,热敏电阻

Sn-Pb/Ni/xx,Sn/Ni/xx,Au/Ni/xx

螺丝工业

螺丝

Zn/xx, Ni/xx, Cu/xx

电镀线

 

电镀液分析

其它工业

探针,马达,石英振动器,电线电缆,装饰品

Au/Ni/xx, Rh/xx, Cr/xx, Sn-Pb/xx

应用实例图示

(1)单镀层:Ag/xx

 

(2)合金镀层:Sn-Pb/xx

 

(3)双镀层:Au/Ni/xx

Ag

 

Sn-Pb

 

Au

底材

 

底材

 

Ni

 

 

 

 

底材

 

 

 

 

 

(4)合金镀层:Sn-Bi/xx

 

(5)三镀层:Au/Pd/Ni/xx

 

(6)化学镀层:Ni-P/xx

Sn-Bi

 

Au

 

Ni-P

底材

 

Pd

 

底材

 

 

Ni

 

 

 

 

底材

 

 

 

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