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X-RAY膜厚仪

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更新时间:2017-03-29 11:01:43浏览次数:486

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产品简介

XRF2000镀层测厚仪
检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,操作非常方便简单,详细电联:

详细介绍

型号

Type H

Type L

Type PCB

主机箱大小

610W x 670D x 600H

610W x 670D x 490H

610W x 670D x 490H

可测量样品大小

550W x 550D x 100H

550W x 550D x 30H

Infinity x 30H

XYZ三轴移动范围

200W x 150D x 100H

200W x 150D x 30H

200W x 150D x 30H

zui大负重

5kg

5kg

5kg

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