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产品简介
详细介绍
Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS原素分析仪是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能，其特点为：高分辨率，固态探测器； 分析有害物质，元素分析分之 ppm - 100％, 符合RoHS / WEEE标准测试以及ELV指令优化的应用； 测量多层镀层或锡铅成分分析；电镀溶液分析；定性分析超过30种元素,能够测量液体，固体，粉末，薄膜和不规则形状；贵金属元素含量和分析（金，银，铂，和珠宝）；自动过滤器，多准直仪（五个准直器，从0.1mm-3.0mm）和全自动XYZ移动样品台；性价比*的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器
本公司还供应上述产品的同类产品：X射线分析仪器,X荧光测厚仪,X-RAY测厚仪
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