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日本sanko膜厚仪fn-325两用探头SWT-7000用
SWT-7000+FN325探头：可进行铁材和非铁材为基材上的涂层厚度。
新的两用探测头FN-325可用于SWT系列的产品（7000、8000、9000）可测量铁与非铁底材为基体的涂层厚度。
SWT系列探头可互换。
◆ 两用型 : FN-325
◆ 铁材用 : Fe 系列
◆ 非铁材 : NFe 系列
探测头型号 | FN-325 |
测量方式 | 电磁式·涡电流式两用（铁·非铁底材自动识别） |
测量范围 | 铁底材：0～3.00mm、非铁底材：0～2.50mm |
表示分辨率 | 1μm：0～999μm的切换（铁·非铁共通） 0.1μm：0～400μm（铁·非铁共通） 0.5μm：400～500μm（铁·非铁共通） 0.01mm:1.00～3.00mm（铁底材） 0.01mm:1.00～2.50mm（非铁底材） |
测量精度 （平滑表面） | 0～100μm：:1μm（铁·非铁共通） 或者是指示值的±2%以内 101μm～3.00mm:±2%以内（铁底材） 101μm～2.50mm:±2%以内（非铁底材） |
探测部 | 1点定压接触式、V形切口、φ13×52mm、72g |
选择产品 | V形探测头套有3种（φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用） |
附属品 | 标准校正板、试验用零校正板、（铁用·非铁用） |
测量对象 | 铁底材：铁·钢等磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂膜、 电镀（电解镍除外）等 非铁底材：铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘皮膜等 一般较普遍的测量物用 |
日本sanko膜厚仪fn-325两用探头SWT-7000用
SWT-7000Ⅲ系列机型
机型 | SWT-7000Ⅲ | SWT-7100Ⅲ | SWT-7200Ⅲ | |
测量范围 | 连接的探测头不同测量范围也不同。 | |||
显示方式 | 液晶显示LCD（数据·提示信息）、背光灯 | |||
检量线校正 | 2点校正方式（零校正、标准校正） | |||
检量线存储 | 铁、非铁各1根 | 10根 | ||
测量值存储 | — | 20,000点 | ||
数据传送 | — | USB | USB | |
统计功能 | — | — | 内藏 | |
附加功能 | ●背光灯 ●测量模式的切换（普通／连续） ●检量线、校正值的删除 ●自动关机功能（约3分以上不操作时，机器会自动关机） ●分辨率的切换 ●上下限值的设定（SWT-7200Ⅲ） | |||
电源 | 单3电池 ×2 | 单3电池 ×2 电源线 | ||
使用温度 | 0～40C°（不结露） | |||
机体尺寸·重量 | 72（W）×30（H）×156（D）mm、 重量 210g | |||
附属品 | 干电池、收纳袋子 | 干电池、收纳袋子、电源线、USB线、USB软件（CD） | ||
追加产品 | 铁材金属用探测头（Fe）、非铁材金属用探测头（NFe） 铁·非铁材用探测头（FN-325） | |||
SWT-7000Ⅲ系列的铁材金属用探测头（1）（Fe）
型号 | Fe-2.5/2.5L | Fe-2.5LwA | Fe-0.6Pem |
测量方式 | 电磁感应式 | ||
测量范围 | 0～2.50mm | 0～600μm | |
表示分解率 | 1μm：0～999μm 切换 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm 0.01mm:1.00～2.50mm | 1μm：0～600μm 切换 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm | |
测量精度 （平滑面） | 0～100μm:±1μm 又或者时显示值的±2%以内 101μm～2.50mm：±2% | 0～100μm:±1μm 又或者时显示值的±2%以内 101μm～600μm：±2% | |
探测部 | 1点定压接触式 V形口套头 2.5：φ13×48mm 2.5L:18×23×67mm | 1点定压接触式 测量部：约20×57mm 全长：约550～ 1.550mm （伸缩式） | 1点定压接触式 Φ5.6×94mm |
选择产品 | V形套头/— （φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用） | — | — |
附属品 | 标准校正片 试验用零校正板 （铁用） | 标准校正片 试验用零校正板（铁用） 收纳袋子 | 标准校正片 试验用零校正板 （铁用） |
测量对象 | 铁·钢等的磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂层、电镀层（电解镍的电镀层除外）等等 | 铁·钢等的磁性金属底材是哪个的皮膜、衬层等等手不能进去、高的地方、有距离的地方的涂层厚度的测量。 | 铁·钢等磁性金属底材上的涂层、衬层等狭小的地方、小的部位的涂层的膜厚测量。 |
SWT-7000Ⅲ系列的铁材金属用探测头（2）（Fe）
型号 | Fe-10 | Fe-20 |
测量方式 | 电磁感应式 | |
测量范围 | 0～10mm | 0～20mm |
表示分解率 | 1μm：0～999μm 0.01mm:1～10mm | 1μm：0～999μm 0.01mm:1～5mm 0.1mm:5～20mm |
测量精度 （平滑面） | 0～3mm：±（5μm＋显示值的3%） 3.01mm：显示值的±3% | |
探测部 | 1点定压接触式 V形口套头 φ18×47mm | 1点定压接触式 V形口套头 φ35×59mm |
选择产品 | — | — |
附属品 | 标准校正片、试验用零校正板（铁用） | |
测量对象 | 铁·钢等磁性金属底材的比较厚的涂层用 | 铁·钢等磁性金属底材上的厚涂层用 |
探测头要根据需要购买。
SWT-7000Ⅲ系列的非铁材金属用探测头（NFe）
型号 | NFe-2.0/NFe-2.0L | NFe-06 | NFe-8 |
测量方式 | 涡电流式 | ||
测量范围 | 0～2.00mm | 0～600μm | 0～8mm |
表示分解率 | 1μm：0～999μm 切换 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm 0.01mm:1.00～2.00mm | 1μm：0～600μm 切换 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm | 1μm：0～999μm 0.01mm：1～8mm |
测量精度 （平滑表面） | 0～100μm:±1μm 又或者时显示值的 ±2%以内 101μm～2.00mm： ±2%以内 | 0～100μm:±1μm 又或者时显示值的 ±2%以内 101μm～600μm： ±2%以内 | 0～100μm:±1μm ±（±1μm＋显示值的±2%） 101μm～8mm： ±2%以内 |
探测部 | 1点定压接触式 V形口套头 2.0：φ13×47mm 2.0L：18×23×67mm | 1点定压接触式 V形口套头 φ11×48mm | 1点定压接触式 V形口套头 φ35×61mm |
选择产品 | V形套头/- | － | － |
附属品 | 标准校正片、试验用零校正板（非铁用） | ||
测量对象 | 铝、铜等非磁性金属底材 上的绝缘性皮膜等一般普 通测量物用。 | 铝、铜等非磁性金属底 材上的绝缘性皮膜等 细小的圆棒、细管、小 物件等的高安定性用。 | 铝、铜等非磁性金属 底材上的绝缘性皮膜等 比较厚的测量物用。 |
探测头要根据需要购买。