热成像仪

Fluke Ti 20 美国福禄克热成像仪技术参数：

热参数
温度范围：
-10°至 350°C

探测器类型：
128 x 96 热敏元件焦平面阵列 （FPA） 非制冷微量热型探测器

准确度：
±2% 或 ±2ºC（取大者）

准确度（-10 至 0 C）：
+/- 3ºC

重复性：
±1% 或 ±1ºC（取大者）

NETD：
200 mK

温度显示分辨率：
0.1 ºC
 

光学/红外
光谱范围：
7.5-14 微米

目标瞄准：
单波长激光点（符合 lEC 2 类及 FDA II 类要求）

光学分辨率：
75:1

测量圆点zui小直径：
8.1 mm（距离为 61cm 时）

图像帧速：
9 Hz

视场 （FOV）：
20º 水平 x 15º 垂直

瞬时视场 （IFOV）：
2.8 mrad
 

控制
焦点：
可聚焦，61 cm 至无穷远

温标：
可选择 ºC

调色板：
可选择灰色、反灰色、铁红或彩虹<SPAN lang=EN-US style="FONT-SIZE: 9pt; COLOR: black; FONT-FAMILY: Ar

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