CIPTech 微观四点探针
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 源顺科技仪器有限公司
- 品牌
- 型号 CIPTech
- 产地 丹麥
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2018/5/14 9:00:00
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公司产品主要有:X射线衍射系统;多功能稳定度分析仪 ;奈米颗粒大小分析仪;光电制造和检测系统;粘度分析系统;粒度及微流变分析系统;数字全析显微镜;呈象椭偏仪,布氏角显微镜,LB 薄膜分析;接触角及表面张力分析仪;沾笔式纳米制程技术;在线粘度计;原子薄膜沉积仪。
SCM
◆ 材料表面 Nano微区范围的『阻抗』分析
* SPM-CIPTech
◆ IBM & Infineon技术『Current In-Plane Tunneling』
◆ MRAM、读写磁头的 MTJ 『磁阻』和『隧阻』
* micro RSP
◆ 超浅结『Ultra Shallow Junction』 『阻抗』分析
* M4PP SEM Module
◆ SEM 在线微区 Sheet Resistance 点测模块
◆ 配合 FIB 进行在线 Sheet Resistance 分析
* MFPP & M4PP:四点或多点奈米探针
微观四点探针 M4PP ,比传统的四点探针的间距小三个数量级,利用硅微加工技术加工而成。 CAPRES 可以提供间距为 5, 10, 15, 20, 25 和 30 微米的探针。
这种探针技术适用于材料微观电性能的表征,是半导体和薄膜工业质量控制的理想工具。它们也可被用于研究,例如对多晶材料中单晶粒或单畴的电导率进行成像。或者该技术可用于在超高真空 UHV 下,清洁硅片由于表面重构造成的微观电子输送的改变。这项技术是 MIC 和日本东京大学物理系合作的部份结果。
CAPRES 现正致力于为客户的特殊要求定制探针,可以制作间距小至 1.5 微米的探针。
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