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CIPTech 微观四点探针

具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称 源顺科技仪器有限公司
  • 品牌
  • 型号 CIPTech
  • 产地 丹麥
  • 厂商性质 经销商
  • 更新时间 2018/5/14 9:00:00
  • 访问次数 1088

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


源顺有限公司

源顺有限公司是一家专门从事纳米科技,材料分析,光电产品检测及生产设备销售和技术咨询的高科技公司。我们*代理具有*水平的分析仪器,产品涵盖了微观结构观察,物理性能,力学性能及电磁学性能。
Total Solution ,为客户提供整体解决方案,是源顺公司一贯坚持的宗旨。 这个宗旨象征*、品质与客户服务,并将在新的世纪中,全面提升服务品质以伴随您的阔步发展。
源顺公司秉持企业文化:『诚信』、『品质』、『服务』、『团队』、『创新』,本着其宗旨『Total Solution』,继续将*的技术,以Z佳的成本效益,提供客户*质的精密分析仪器和生产设备,并坚持Z*的服务。

公司产品主要有:
LUM公司: 多功能的颗粒状态与稳定度分析仪
Qudix公司: 奈米 & 微米颗粒大小分析仪。
Scinco公司: 可见光及紫外光光度计(UV-Vis Spectrophotometer), Colormate。
SOFRASER公司: 在线粘度计。
ProRheo公司: 高阶粘度计。
Rame-hart公司: 接触角及表面张力分析仪。
AET 公司: 微波诱电分析仪
NANOFILM公司: 呈象椭偏仪,布氏角显微镜,LB 薄膜分析。
UNIOPT公司: 双折射分析仪。
NonoInk: Dip Pen Nanolithography (DPN) 沾笔式纳米制程技术。
ANASYS 公司: Nano-Thermal Analysis。
PNI公司: 原力显微镜(AFM)
Capres公司: MRAM,写磁头的MTJ 磁阻和隧阻&材料表面 Nano微区范围的阻抗分析.
LYNCEETEC公司: DHM (数字全析显微镜)
BEDE公司: 高分辨X射线衍射仪。
OMI公司: Solstice (晶圆或外延片的能阶Bandgap分析,Strained Silicon 分析)。
Equinox (IC or MEMS封装应变,3D热机械变形及CTE分析)。
Pascal公司: 脉冲雷射溅镀MBE(PLD MBE) – ZnO, GaN, etc.。
Cambridge Nano Tech: 原子薄膜沉积仪 (ALD).
EpiQuest公司: 研发型 MOCVD,MBE,VCSEL 氧化系统。


源顺公司总部设在香港,在上海和北京设立了分公司,深圳和成都设立了办事处,并有强大的技术和维修队伍,为客户提供Z高水平的产品和服务。

公司产品主要有:X射线衍射系统;多功能稳定度分析仪 ;奈米颗粒大小分析仪;光电制造和检测系统;粘度分析系统;粒度及微流变分析系统;数字全析显微镜;呈象椭偏仪,布氏角显微镜,LB 薄膜分析;接触角及表面张力分析仪;沾笔式纳米制程技术;在线粘度计;原子薄膜沉积仪。

 SCM
  ◆ 材料表面 Nano微区范围的『阻抗』分析
* SPM-CIPTech
  ◆ IBM & Infineon技术『Current In-Plane Tunneling』
  ◆ MRAM、读写磁头的 MTJ 『磁阻』和『隧阻』
* micro RSP
◆ 超浅结『Ultra Shallow Junction』 『阻抗』分析
* M4PP SEM Module
  ◆ SEM 在线微区 Sheet Resistance 点测模块
  ◆ 配合 FIB 进行在线 Sheet Resistance 分析

* MFPP & M4PP:四点或多点奈米探针

微观四点探针 M4PP ,比传统的四点探针的间距小三个数量级,利用硅微加工技术加工而成。 CAPRES 可以提供间距为 5, 10, 15, 20, 25 和 30 微米的探针。

这种探针技术适用于材料微观电性能的表征,是半导体和薄膜工业质量控制的理想工具。它们也可被用于研究,例如对多晶材料中单晶粒或单畴的电导率进行成像。或者该技术可用于在超高真空 UHV 下,清洁硅片由于表面重构造成的微观电子输送的改变。这项技术是 MIC 和日本东京大学物理系合作的部份结果。

CAPRES 现正致力于为客户的特殊要求定制探针,可以制作间距小至 1.5 微米的探针。

 



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