SGWX-4 显微熔点仪
| 参考价 | ¥ 3500 |
| 订货量 | ≥1 |
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 上海恒磁电子科技有限公司
- 品牌
- 型号 SGWX-4
- 产地
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2015/10/23 21:41:51
- 访问次数 1351
联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息，谢谢!
物质的熔点是指该物质由固态变为液态时的温度，在有机化学领域中，熔点测定是辨认该物质本性的基本手段，也是纯度测定的重要方法之一。目视显微熔点测定仪是研究、观察物质在加热状态下的形变、色变及物质三态转化等物理变化过程的有力检测手段。本仪器可用载玻片方法测定物质的熔点、变形、色变等；也可用药典规定的毛细管方法测其熔点，尤其对深色样品，如医药中间体、颜料、橡胶促进剂等的熔点，并能自始自终观察到其熔化的全过程。特别对大专院校和科研单位进行实验使用。应用范围： 测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
特点
1本仪器使用毛细管法和载玻片法两种方法进行测量。号：ZL02215087.0
2根据特殊要求，本仪器也可用盖玻片----载玻片法进行测量。
3本仪器采用LED数字显示熔点温度值。
4本仪器采用热台控制系统和显微镜组合成一体的结构，简单可靠，使用方便。
5升温速率连续可调。我们建议你采用1℃/分的升温速率测量熔点的温度值，在*次使用时记录下1℃/分的升温速率时的波段开关和电位器的编号则以后用此位置就能得到你的所要求的升温速率。
并请注意：
（1）室温的影响：在同样波段开关和电位器的编号下，室温越低，升温速率越慢。
（2）电子元件的影响：电子元件的老化，升温速率一定时，其电位器的编号会有所变化，只要进行微调即可，编号越大，升温速率越快。
性能指标：
熔点测量范围：室温至320℃
zui小读数单位：1℃
测量重复性：±1℃（在<200℃时）
±2℃（在200～300℃时）
±2℃（在200～300℃时）
光学放大倍数：目镜10X；物境4X
电源：AC220V±22V，50Hz
功率：80W
原理：基于光学零位原理的自动数字显示旋光仪
调制器：法拉弟调制器
光源： 大功率发光二极管
工作波长：589.3 nm
可测样品zui低透过率：1 ％
测量范围：± 45°（旋光度） ± 120°Z（糖度）
zui小读数：0.001°（旋光度） 0.01°Z（糖度）
准确度：0.02 级
示值误差：±（0.005°+测量值×0.03 ％）
重复性（标准偏差s）：样品透过率大于1﹪时≤ 0.002° （旋光度）
显示方式：点阵式液晶显示
试管：200 mm、100 mm 两种
电源：220 V ± 22 V，50 Hz ± 1 Hz
仪器尺寸：718 mm × 342 mm × 220 mm
仪器净重：32 kg
USB1.1 接口：56 位数据
调制器：法拉弟调制器
光源： 大功率发光二极管
工作波长：589.3 nm
可测样品zui低透过率：1 ％
测量范围：± 45°（旋光度） ± 120°Z（糖度）
zui小读数：0.001°（旋光度） 0.01°Z（糖度）
准确度：0.02 级
示值误差：±（0.005°+测量值×0.03 ％）
重复性（标准偏差s）：样品透过率大于1﹪时≤ 0.002° （旋光度）
显示方式：点阵式液晶显示
试管：200 mm、100 mm 两种
电源：220 V ± 22 V，50 Hz ± 1 Hz
仪器尺寸：718 mm × 342 mm × 220 mm
仪器净重：32 kg
USB1.1 接口：56 位数据
仪器的保养
仪器应安放在干燥的地方，避免经常接触腐蚀性气体，防止受到剧烈的振动。
经过一段时间使用之后由于外界环境的影响，仪器的光学系统表面可能积灰或发霉，
影响仪器性能，可用小棒缠上脱脂棉花蘸少量无水乙醇或醋酸丁脂轻轻揩擦。
如有霉点可用棉花蘸酒精后，再蘸少量的氧化铈（红粉）或碳酸钙轻轻揩擦，光学
零件一般勿轻易拆卸。光学零部件一经拆卸就破坏了原来的光路，重调整，否则
仪器性能将受影响甚至无法工作。若因故拆卸更换光学零件，应送我厂解决。
光路的检查
可用外径为φ30 mm 的一个圆片放入试样槽中测试光束的出口处，在较暗的室内光
线下可以看到测试光束投射到此圆片上的光斑，此光斑应呈圆形且与圆片基本同心，如
光斑明显不圆，或明显偏离中心则必将影响仪器的性能，应送我厂处理。
仪器应安放在干燥的地方，避免经常接触腐蚀性气体，防止受到剧烈的振动。
经过一段时间使用之后由于外界环境的影响，仪器的光学系统表面可能积灰或发霉，
影响仪器性能，可用小棒缠上脱脂棉花蘸少量无水乙醇或醋酸丁脂轻轻揩擦。
如有霉点可用棉花蘸酒精后，再蘸少量的氧化铈（红粉）或碳酸钙轻轻揩擦，光学
零件一般勿轻易拆卸。光学零部件一经拆卸就破坏了原来的光路，重调整，否则
仪器性能将受影响甚至无法工作。若因故拆卸更换光学零件，应送我厂解决。
光路的检查
可用外径为φ30 mm 的一个圆片放入试样槽中测试光束的出口处，在较暗的室内光
线下可以看到测试光束投射到此圆片上的光斑，此光斑应呈圆形且与圆片基本同心，如
光斑明显不圆，或明显偏离中心则必将影响仪器的性能，应送我厂处理。
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