LT-AC/DC 台式霍尔效应测量系统

霍尔效应测量系统 （HEMS）

HEMS 是一个集成的硬件和软件系统，旨在测量和分析样品的电子特性。

该系统设计提供了在高达 2.5 特斯拉的磁场下进行测量的可能性，结合低温恒温器，磁场高达 16T.

同时，该系统提供了使用 2 个不同温度测量头进行 3K-1273K 范围内测量的机会，同时它提供了与探头系统相关的样品的轻松组装，可以在 3 个不同的轴上移动。

NMI – 霍尔效应测量系统 （HEMS） 设备对半导体、有机导体和金属氧化物材料进行电气表征。这些用纳米技术方法开发的材料用于芯片技术的发展、太阳能电池的发展、材料科学的发展、空间技术、国防工业的发展。

适用对象

适用于基于 GaAS 的材料（高电子迁移率晶体管、伪高电子迁移率晶体管、异质结双极晶体管、场效应晶体管、金属半导体场效应晶体管）、磷化铟、砷化铟、氮化镓、氮化铝、硅、锗、碲镉汞、氧化锌、硅锗、锰砷化镓、氧化锌、红外应用（发光二极管、激光二极管、探测器）、金属氧化物、有机和无机导体、铁氧体等。

测量内容包括

• 迁移率测量

• 载流子测量

• 电阻率测量

• 范德堡测量

• 霍尔 bar 测量

极帽

• 可调节极帽

• 25mm 端面直径

• 极间距可在 0 - 130mm 连续调节

• 可选更大直径，50mm、75mm

电磁铁

• 25mm 极面、10mm 间距时，±2.5T（可配置）

• ±35V，±70A 线圈

• 25mm 极间距时，磁场＞±1T

• 大极间距下磁场强度高

• 适用于 3 - 300K 闭循环低温恒温器集成

• 串联线圈电阻：0.5Ω（20℃）

• 水冷

制冷机

• 闭循环水冷

• 超温时与线圈互锁

NanoMagnetics 高斯计

• 利用集成高斯计进行磁场控制扫描

• 用霍尔探头校准磁场

• 高灵敏度磁场测量

• 软件控制所有参数

样品架

弹簧加载设计选项：

• 范德堡测量设计

• 四、六或八接触霍尔 bar 测量设计

• 用弹簧针连接，便于样品安装

• 标准 5mm×5mm 样品尺寸（可选更大尺寸）

• 多样品安装

样品焊接 / 键合设计选项：

• 范德堡测量设计

• 四或六接触霍尔 bar 测量设计

• 八接触霍尔 bar 测量设计（可选）

• 5mm×5mm 样品尺寸（可选更大尺寸）

• 多样品（2 个）安装

控制器与软件

• 是德科技（Keithley Instruments）pA/μV 灵敏度的*数字源表

• 用强大软件进行层迁移率分析

• 基于 Labview 的全自动软件

• 带 USB / 以太网接口的磁铁与系统控制

• 3 - 1300K 变温控制选项，用于低温 - 高温测量

• 用高斯计进行磁场控制测量

• 范德堡和霍尔 bar 测量的可视化便捷设置

• 软件免费更新

交流霍尔效应测量系统（可选）

• 频率：0.1 赫兹

• 最大磁感应强度：0.65 特斯拉

• 迁移率：10⁻³ 平方厘米每伏秒

• 低温分辨率：±0.2 开尔文

• 高温分辨率：±1 开尔文