波兰QWED微波Q表 微波频率Q表 Type 2

波兰QWED微波Q表 微波频率Q表 Type 2

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QWED微波Q表，根据频率范围区分出了3个型号：

type 1:4.4 GHz- 5.2 GHz

type 2:1.4 GHz - 2.6 GHZ

type 3:0.7 GHz - 1.3 GHZ

供货范围如图：



微波频率Q-Meter(微波频率Q-Meter)
一种廉价的计算机控制微波振荡器系统，可通过专用的 SPDR 和 SiPDR 进行快速自动测量。

每个微波/材料实验室的精确介电测量设置允许用低成本、非常准确的测量取代昂贵的测量设备。

微波频率 Q 表，使用专用的 SPDR 和 SIPDR 谐振器进行快速自动测量。专用、用户友好且高度可配置的应用程序允许控制测量过程并轻松管理测量结果。

SPDR 用于测量层流介电材料(包括 LTCC 衬底)以及沉积在低损耗介电衬底上的铁电薄膜的复杂介电常数。此外，SPDR还可用于测量各种导电材料的表面电阻和电导率，例如商业电阻层、导电聚合物薄膜或高电阳率半导体。这种测量仅适用于Rs>5 kΩ/平方的大表面电阻样品。

SiPDR 用于测量超材料和电阻膜的表面阻抗，以及半导体品片电导率的非接触式测量。可测量的薄膜材料范围包括电阻层金属薄膜和导电聚合物薄膜，表面电阻 Rs<20 kQ/square。

传统上，使用谐振器进行最、精确的测量是使用自动网络分析仪进行的。

QWED开发了一种廉价的计算机控制微波振荡器系统，可通过专用的SPDR和SiPDR进行快速自动测量。

Q-Meter 的硬件部分由 PLL稳定的微波源和 DDS 生成的基准电压源组成，由快速 32 位 ARM 微控制器控制。宽带对数功率检测器用于测量通过谐振器的发射功率电平。多点共振曲线拟合算法将使Q 因子能够准确计算。唯、一需要的外部信息是被测样品的厚度。硬件非常简单，并且使用计算机屏幕来显示结果，从而显着降低了开始探索具有SPDR和SiPDR的材料电磁特性的成本。

微波率 Q-Meter可以通过 US8端口连接到计算机，专用应用程序允许控制测量过程并轻松管理测品结果。使用专用的 SPDR和 SIPDR，可以测量材料的以下电磁特性

介电常数(仅限 SPDR)

介电损耗角正切(仅限 SPDR)

电阻率

薄膜的片材电阻

连接到 SPDR 和计算机的微波频率 Q 表。微波频率 Q 表连接到 SiPDR 和计算机。

注意：QWED微波Q表需配合QWED的 SPDR/SiPDR 谐振器一同使用。

技术规格:

前面板和后面板标识：1 - 模式指示灯：绿色 - 待机模式，绿色闪烁 - 测量中，红色 - 错误；2 - 信号源输出（SMA 母头）；3 - 探测器输入（SMA 母头）；4 - 迷你 USB 连接器

硬件：电源：5V (USB)，~400 mA；测量精度：ε：Q>1000 为 1%；坦 δ：Δtanδ=±2×10⁻⁵ 或 ±0.03×tanδ，以较高者为准；测量的 Q 因子范围：200~100000；频率范围：类型 1: 4.4 GHz ~ 5.2 GHz，类型 2: 1.4 GHz ~ 2.6 GHz，类型 3: 0.7 GHz ~ 1.3 GHz；频率分辨率：1 千赫；频率稳定性：2.5 页 / 分钟（注：推测可能为 “2.5 ppm / 分钟”，按原文保留）；输出功率：12 dBm ± 3 dBm；输入功率范围：-55 dBm ~ -5 dBm；测量时间：< 10 秒；大小：19 毫米 ×72 毫米 ×108 毫米；重量：250 克

软件：专用控制应用：Windows 操作系统；导出结果：CSV 文件格式，BMP 图片；导入结果：CSV 文件格式

波兰QWED成立于1997年，开发和生产具有最高精度的电磁模拟器，多种类型的谐振器用于精确测量微波频率下材料的电磁特性和微波频率 Q-Meter- 一种廉价的计算机控制微波振荡器系统，可使用专用谐振器进行快速自动测量。

主要产品分为EM软件和材料测量产品。

材料测量

介电材料的完整测量装置，包括测试夹具（谐振器）和经济高效的微波 Q 计。

几种类型的谐振器，用于精确测量微波频率下材料的电磁特性。

一种新型的法布里-珀罗开放谐振器 （FPOR），带有高斯镜，用于在 20-110GHz 频率范围内对低损耗介电片的电磁特性进行自动宽带和精确谐振测量。

使用便携式 2D 扫描仪对材料样品进行高效成像，该扫描仪集成了 10GHz 分柱式介质谐振器，由低外形矢量或标量网络分析仪驱动。

微波 Q-Meter - 一种廉价的计算机控制微波振荡器系统，可通过专用的 SPDR 和 SiPDR 进行快速和自动测量。

测量设置

介电材料的完整测量设置，包括具有成本效益的微波 Q 表。

谐振 器

几种类型的谐振器，用于精确测量微波频率下材料的电磁特性。

Fabry-Perot 开路谐振器

一种新型法布里-珀罗开式谐振器 （FPOR），带有高斯镜，用于自动宽带和 20-110 GHz 频率范围内低损耗介电片电磁特性的精确谐振测量。

表面映射

使用便携式 2D 扫描仪对材料样品进行高效成像，该扫描仪集成了 10GHz 分柱式介质谐振器，由低外形矢量或标量网络分析仪驱动。

常用产品和型号有

电介质谐振器、微波Q表、微波频率Q表、谐振器、谐振腔、Q-Meter 8.4 - 10.4 GHz、SPDR 10G、SPDR 2.5 GHz、SPRD 10 GHz、Type 2(含软件)

材料测量类产品有：
分体式介电谐振器 （SPDR），SPDR 基本系列的标称频率为：1.1 GHz、2.45 GHz、5 GHz、10 GHz 和 15 GHz。1.1 至 15 GHz 范围内其他频率的谐振器可根据特殊要求制造。

单柱介质谐振器 （SiPDR）

Q-choke 分体式圆柱谐振器 （Q-SCR）Q-SCR 10GHz、SPDR 10 GHz

TE01δ 型介质谐振器

用于石墨烯测量的谐振器

法布里-珀罗开放谐振器 （FPOR）

10 - 26.5 GHz、10 - 43 GHz、10 - 50 GHz、10 - 67 GHz、10 - 110 GHz 等

宽带 FPOR固体电介质、D 波段 FPOR固体电介质、FPOR液体电介质、FPOR导体

用于材料成像的 2D SPDR 扫描仪

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