TTT-PMA Checker 小巧便捷 集成度高磁滞回线测量仪

小巧便捷  集成度高磁滞回线测量仪 TTT-PMA Checker

从当下主流的机械硬盘，到未来的磁性存储单元，磁滞回线测量都是评估薄膜性质的重要手段。相较于电学霍尔测量和震动磁强计，磁光磁克尔效应具有测量速度快，精度高，非侵入，且不需要对样品进行加工或切片等操作的特点。

通过对磁滞回线的分析，用户不但可以得到矫顽力及相对磁化强度等信息，亦可了解磁性薄膜磁各向异性等性质。针对不同矫顽力的多层磁性薄膜结构，磁光克尔测量可以分析出逐层的磁滞回线信息。

托托科技磁滞回线测量仪

托托科技推出的小巧便捷  集成度高磁滞回线测量仪，以其紧凑的设计、精确的测试结果、强大的磁场强度和便捷的数据采集功能，满足了实验室研究和工业生产中对各种磁性薄膜材料测试的需求。我们提供的一站式解决方案包括控制盒、磁光主体和上位机，形成一套完整的设备，无需额外的电表或电源，即可轻松进行磁滞回线测量。此外，设备还预留了信号读取和TTL触发接口，方便用户使用自己的锁相放大器（例如SRS系列或 Zurich MFLI系列）进行数据采集。

产品介绍

应用示例

自旋/磁电子学 磁性纳米技术 非易失性磁性随机存储器 磁阻研究 磁性薄膜 磁性传感器

构成清单

光磁主体 控制盒 电脑

设备控制软件界面

产品定位/推荐

该系统的定位是为客户提供稳定、快捷的磁滞回线测量设备。如需更多附加功能，例如：磁畴成像，微区测量，集成温控设备，集成电学测量设备，集成样品扫描成像等选项，我们建议客户考虑TTT-Mag-Kerr Microscope 系列产品。

TTT-PMA Checker不具备空间分辨能力，光斑直径为1毫米。

测试数据

Si 衬底上生长制备MgO (2)/Pt (4)/Co (0.2)/[Ni (0.2)/Co (0.2)]2垂直磁性薄膜基底上溅射不同覆盖层X（2）/MgO（1）/SiO2（3）（thickness in nm），其中X = Pt，Cu，MgO，Ir，Ta，W，以及Hf元素。通过TTT-Mag-PMA Checker/磁滞回线测量仪对样品的矫顽力快速检测得到样品磁滞回线数据，快速对比其磁性强度和矫顽力场的区别。