纳米粒度及Zeta电位仪
参考价 | ¥800-¥500000/件 |
- 公司名称 厦门搏仕检测设备有限公司
- 品牌LIBOSHI/力搏仕
- 型号
- 所在地厦门市
- 厂商性质生产厂家
- 更新时间2025/5/27 17:18:44
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产地类别 | 国产 | 价格区间 | 10万-30万 |
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应用领域 | 综合 |
纳米粒度及Zeta电位仪通过激光器发射光束照射纳米颗粒,颗粒的布朗运动导致散射光强度随时间波动。检测器(如雪崩光电二极管)采集90°散射光信号,通过自相关函数分析光强波动频率,推导出颗粒的扩散系数,再根据斯托克斯-爱因斯坦方程计算粒径分布:
d=3πηDkT
其中,d为粒径,k为玻尔兹曼常数,T为温度,η为溶液黏度,D为扩散系数
部分仪器结合SLS技术,通过测量不同角度的散射光强度,进一步验证颗粒尺寸及分子质量。
二、Zeta电位测量原理
纳米粒度及Zeta电位仪在电场作用下,带电颗粒发生电泳迁移。仪器通过检测颗粒的迁移速度(通常利用12°检测器采集散射光信号),结合相位分析光散射技术(PALS)计算电泳迁移率,再通过亨利方程转换为Zeta电位。
Zeta电位反映颗粒表面剪切面的电势差,其数值与胶体稳定性直接相关:绝对值越高,体系越稳定。
纳米粒度分析仪是一种用于测量颗粒尺寸和分布的仪器,通常使用光学显微镜或电子显微镜进行图像采集,再通过专门的软件进行分析。
2. 使用步骤
1)将样品放入分析仪中,并设置所需的参数。
2)进行图像采集,获取样品的颗粒图像。
3)利用软件进行粒度分析,测量颗粒的大小、形状、分布等参数。
ζ=ε⋅f(κa)μη
其中,ζ为Zeta电位,μ为电泳迁移率,ε为介电常数,f(κa)为亨利函数(与颗粒形状和双电层厚度相关)。