CMX2-DL/CMX3-DL 美国Dakota NDT多功能超声波测厚仪
参考价 | ¥ 33750 |
订货量 | ≥1台 |
- 公司名称 深圳市泰立仪器仪表有限公司
- 品牌 DAKOTA/美国
- 型号 CMX2-DL/CMX3-DL
- 产地 美国
- 厂商性质 代理商
- 更新时间 2025/5/13 8:30:18
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产地类别 | 进口 | 价格区间 | 2万-5万 |
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应用领域 | 电子/电池,航空航天,汽车及零部件,电气,综合 |
美国Dakota NDT多功能超声波测厚仪CMX2-DL/CMX3-DL
美国DAKOTA公司CMX系列多功能超声波测厚仪,替代CMXDL+标准版和彩屏版。可测量材料的厚度和穿透涂层测量材料厚度,也可以测量涂层的厚度。可配双晶探头和单晶探头。
美国DAKOTA公司CMX2-DL/CMX3-DL多功能超声波测厚仪,带A/B扫描功能,可测量材料的厚度,穿透涂层测量材料厚度,也可以测量涂层的厚度。用户可根据需求选择不同的功能配置,以获得更好的性价比。
CMX2-DL为灰度显示屏 CMX3-DL彩屏显示
特点
100MHz FPGA时序电路设计
可选彩色和灰度显示屏
A/B扫描
手动调节增益和自动增益控制 (AGC),范围:110dB
自动时间相关增益(TDG)
多种测量模式
脉冲-回波(P-E)模式:测量材料厚度
脉冲-回波涂层(PECT)模式:同时测量材料和涂层厚度
脉冲-回波温度补偿(PETP)模式:测量材料厚度
回波-回波(E-E)模式:穿过涂层测量材料厚度
回波-回波验证(E-EV)模式: 穿过涂层测量材料厚度
测量涂层(CT)模式:只测量涂层厚度
可接双晶探头和单晶探头(包括延迟块探头、接触式探头、笔形探头)
USB Type-C数据接口
内置4GB SD存储卡
美国Dakota NDT多功能超声波测厚仪CMX2-DL/CMX3-DL技术参数
测量
脉冲-回波(P-E)模式测量范围:0.63mm~30.48m(钢)
脉冲-回波涂层(PECT)模式测量范围:0.63mm~30.48m(钢),0.0254~2.54mm(涂层)
脉冲-回波温度补偿(PETP)模式 测量范围:0.63mm~30.48m(钢)
回波-回波(E-E)模式测量范围:2.54~152.4mm(钢,穿过涂层测量,随涂层厚度的不同,测量范围也会变化)
回波-回波验证(E-EV)模式测量范围:2.54~102mm(钢,穿过涂层测量,随涂层厚度的不同,测量范围也会变化)
测量涂层(CT)模式测量范围:0.0127~2.54mm(涂层)
分辨率:0.01mm
声速范围:309.88~18542m/s
单位:公制或英制
校准:一点和两点校准方式
显示
CMX2-DL显示屏:1/8英寸VGA灰色显示,240x160象素。可视区62x45.7mm,EL背光;
CMX3-DL显示屏:1/4英寸AMOLED彩色显示屏,320x240象素
A-扫描方式:检波+/-(缺陷视场),RF(全波视场)。刷新频率25Hz/60Hz(彩色显示屏)。纵向和横向视图(彩色显示屏)
B-扫描方式:基于时间的横截面视图。 显示速度为每秒10到200个读数
大数字方式:标准厚度显示,数字高度17.78mm(CMX2-DL)/14.35mm(CMX3-DL)
厚度条形扫描:速度33Hz,在B-扫描和大数字显示中可见
稳定度指示:表示测量值的稳定性
功能状态指示:显示当前激活的功能
超声波参数
测量模式:P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT
脉冲:可调方波脉冲发生器
接收:根据选择模式在110dB范围内采用手动或AGC增益控制,阻抗50~1500Ω可调
计时:单次8位100MHz超低功耗数字化仪的精确TCXO计时
脉冲重复频率:250Hz
探头
频率范围:1~20MHz
双晶探头和单晶探头(延迟块、接触式、笔式)
LEMO接口,1.2米探头线
存储
容量:内置4GB SD卡
数据结构:网格(字母数字)和顺序(自动识别)
截屏功能:位图图形捕获,用于快速记录
数据输出:通过USB Type-C连接的计算机
功能
设置:64个用户定义设置,用户也可编辑出厂设置
探头类型可选:内置双路误差校正,提高线性度
报警模式:上下限视听报警
快速扫描模式:每秒250个读数,当探头离开时显示最小值
其他
键盘:12个触摸键
电源:标配为三节5号碱性电池 ,可选镍镉电池或锂电池。电量状态指示。无操作五分钟后自动关机。USB Type-C供电
外壳:挤压铝机壳,底盖用镀镍铝板加密封垫封装
工作温度:-10~60℃
尺寸重量:63.5x165x31.5mm,含电池385g
包装:ABS工程塑料箱
出厂证书:工厂校准可追溯到NIST和MILSTD-45662A标准
双晶探头参数
型号 | 频率 | 探头晶片直径 | 探头防磨面直径 | 测量范围 | 说明 |
T-102-2900 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0~152mm | 标准CT探头(可测涂层厚度) |
T-101-2900 | 5.0MHz | 4.76mm | 6.35mm | 1.0~50mm | 小管径CT探头 |
T-102-3300 | 7.5MHz | 6.35mm | 9.53mm | 0.63~152mm | 超薄探头 |
T-104-2900 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27~508mm | 超厚CT探头 |
T-042-2000 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0~152mm | 标准高温探头,最高340℃ |
T-044-2000 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27~508mm | 超厚高温探头,最高340℃ |
T-212-2001 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0~152mm | 超高温探头,最高480℃ |
T-214-2001 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27~508mm | 超厚超高温探头,最高480℃ |
注:测试高温表面时需用高温耦合剂
单晶探头参数
探头型号 | 频率 | 描述 | 说明 |
T-402-5507 | 15MHz | 晶片Ø6.35mm | 标准延迟块探头 |
T-402-6507 | 20MHz | 晶片Ø6.35mm | 延迟块探头 |
T-4903-2875 | 5MHz | 晶片Ø3.18mm,防磨面Ø6.35mm | 接触式探头 |
T-4903-4875 | 10MHz | 晶片Ø3.18mm,防磨面Ø6.35mm | 接触式探头 |
T-4023-2855 | 5MHz | 晶片Ø6.35mm,防磨面Ø9.53mm | 接触式探头 |
T-4023-4855 | 10MHz | 晶片Ø6.35mm,防磨面Ø9.53mm | 接触式探头 |
T-481-4507 | 10MHz | 延迟块前端Ø1.59mm | 笔式探头 |