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u-X360j X射线残余应力分析仪

具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称 成都光纳科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型号 u-X360j
  • 产地 日本
  • 厂商性质 经销商
  • 更新时间 2025/3/28 10:56:46
  • 访问次数 1470

联系方式:陈波查看联系方式

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       成都光纳科技有限公司是一家专业从事国外光电科研仪器代理销售,咨询服务的高科技公司。我司与上PHOTRON、PCO等的光电技术厂家有着紧密的联系,为国内光电研究和应用领域的科研以及工业用户提供产品及咨询服务,并针对用户的实际应用需求给出解决方案。
  我们致力于为用户提供的产品,准确的信息以及优质的服务。所提供的产品包括科学级CMOS相机、科学级CCD相机、高速相机、超高速摄像机、分幅相机、像增强器、激光器、光栅光谱仪以及光学元件滤光片等产品。主要代理以下品牌产品:德国PCO公司、日本Photron公司、法国PHOTONIS、日本HORIBA集团、德国GOM、英国SI、英国IVV等。
   我公司秉承“专业,专注、诚信,高效”的原则,竭诚为国内广大用户提供专业咨询以及快捷、优质、完善的技术支持服务。   

高速摄像机、高速红外热像仪、像增强器、光谱仪、三维应变测量系统、激光器、滤光片

价格区间 100万-200万 仪器种类 进口
应用领域 电子/电池,道路/轨道/船舶,钢铁/金属,航空航天,汽车及零部件


X射线残余应力分析仪

小而轻的便携式X射线残余应力分析仪 日本Pulstec公司制造    型号:μ-X360s

  X射线是表面残余应力测定技术中为数不多的无损检测法之,是根据材料或制品晶面间距的变化测定应力的,至今仍然是研究得较为广泛、深入、成熟的残余应力分析和检测方法之,被广泛的应用于科学研究和工业生产的各域。2012年日本Pulstec公司开发出基于全二维探测器技术的新代X射线残余应力分析仪——μ-X360n,将用X射线研究残余应力的测量速度和精度推到了个全新的高度,设备推出不久便得到业界好评。由于其技术之进、测试数据可重复性之高、使用之便携,设备经推出便备受业界青睐!

近期,日本Pulstec公司成功克服技术难点,继μ-X360n,μ-X360s之后又发布了新的产品型号:μ-X360J,将全二维面探测器技术的产品设计和功能完善再次升!

产品点:

相较于传统的X射线残余应力测定仪,基于全二维探测器技术的μ-X360系列具有以下优点:

更快速:二维探测器次性采集获取完整德拜环,单角度次入射即可完成测量。

更准确:次测量可获得500个衍射峰进行残余应力数据拟合,结果更准确。

更轻松:无需测角仪,单角度次入射即可,复杂形状和狭窄空间的测量不再困难。

更方便:无需任何液体冷却装置,支持便携电池供电。

更强大:具备区域应力测量功能,晶粒均匀性、材料织构、残余奥氏体分析等功能。


基本参数:
准直器尺寸标配:直径1mm(其他尺寸可选)
X射线管参数

μ-X360s:30KV  1.5mA;μ-X360J:30KV   1.6m

X射线管所用靶材标配:铬靶(可选配其他)
是否需要冷却水无需
是否需要测角仪无需
X射线入射角度单入射角即可获取全部数据
所用探测器二维探测器
直接测量参数残余应力 衍射峰的半峰高全宽
电源参数130W功率 110-240V 50-60HZ
可否户外现场检测设备便携、支持便携电池供电


晶粒取向分析晶粒均匀性分析
X射线残余应力分析仪X射线残余应力分析仪


应用域:

1.  机械加工域:测量机床、焊接、铸造、锻压、裂纹等构件的残余应力。

2.  冶金行业:测量热压、冷压、炼铁、炼钢、炼铸等工业生产构件的残余应力。

3. 各种零配件制造:测量电站汽轮机制造、发动机制造、油缸、压力容器、管道、陶瓷、装配、螺栓、弹簧、齿轮、轴承、轧辊、曲轴、活塞销、万向节、机轴、叶片、刀具等工业产品的残余应力。

4. 表面改性处理:测量渗氮、渗碳、碳氮共渗、淬火、硬化处理、喷丸、振动冲击、挤压、滚压、金刚石碾压、切削、磨削、车(铣)、机械抛光、电抛光等工艺处理后构件中的残余应力。

5. 民生基础建设域:

(1)海洋域:测量船舶、海洋、石油、化工、起重、运输、港口等域设备和设施的残余应力。

(2)能源域:测量核工业、电力(水水电、热电核电)、水工程、天然气工程等域的设备和设施的残余应力。

(3)基础建设工程域:测量挖掘、桥梁、汽车、铁路、航空航天、交通、钢结构等工程域所用材料、构件及其它相关设备设施的残余应力。

6. 国防jun工域:测量wuqi装备、重型装备等产品的残余应力。


测试原理概述:

全二维面探测器技术

--单角度次入射后,用二维探测器获得完整德拜环。通过比较没有应力时的德拜环和有应力状态下的变形德拜环的差别来计算应力下晶面间距的变化以及对应的应力
--施加应力后,分析单次入射前后德拜环的变化,即可通过残余应力分析软件获得残余应力数据


应用软件:

1. 采用全二维面探测器获取完整德拜环,X射线单角度次入射即可完成应力测量

2. 全自动软件测量残余应力并可显示出半峰宽数值

3. 内在定位标记和CCD相机方便样品定位,操作其简单快捷

4. 快捷进入预设各种材料测量条件,键执行测量





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