SGW X-4 显微熔点仪
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- 公司名称 上海仪电物理光学仪器有限公司
- 品牌 仪电物光
- 型号 SGW X-4
- 产地 上海市松江区徐塘路88号7号楼
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2025/7/30 17:06:46
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产地类别 | 国产 | 价格区间 | 面议 |
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类型 | 显微熔点仪 | 应用领域 | 化工,综合 |
产品简介
SGW X-4 显微熔点仪测定物质的熔点。显微熔点仪主要用于药物、化工、纺织、燃料、香料等晶体有机化合物之测定。仪器采用显微镜观察方法,既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
一、仪器结构原理
本仪器是显微镜、加热台为一体的结构,温度检测器为内置式,使用方便,显微镜用来观察样品受热后的反应变化及熔化的全过程。加热台用电热丝加热,并带有风机,可快速降温可用载玻片法测量,也可用毛细管测量熔点。
二、技术参数
1、仪器型号:SGW X-4
2、测量范围:室温~320 ℃
3、测量方法:目视
4、测量模式:毛细管法、热台法
5、最小示值:1℃
6、重复性 :≤200℃±1℃,>200℃±2℃
7、观察方式:单目显微镜
8、放大镜倍数:40×
9、电源 :220V±22V,50Hz±1Hz
10、仪器尺寸:215×140×395mm
11、仪器净重:3.5kg
三、特点
1、本仪器可用毛细管和载玻片两种方法进行测量。
2、根据特殊要求,本仪器也可用载玻片(用盖玻片代)法进行测量。
3、本仪器采用 LED 数字显示熔点温度值。
4、本仪器采用热台控制系统和显微镜组合成一体的结构简单可靠,使用方便。
5、升温速率连续可调。我们建议你采用 1℃/分的升温速率测量熔点的温度值,在第一次使用时记录下 1℃/分的升温速率时的波段开关和电位器的编号,则以后用此位置就能得到你所要求的升温速率。
四、并请注意
1、室温的影响:在同样波段开关和电位器的编号下,室温越低,升温速率越慢。
2、电子元件的影响:电子元件的老化,升温速率一定时,其电位器的编号会有所变化,只要进行微调即可。编号越大,升温速率越快。
五、易耗品选购
1、毛细管:90mm适用于WRS系列仪器、120mm适用于WRR系列仪器
2、标准物质:萘、己二酸、蒽醌等
3、载玻片/盖玻片:适用仪器WRX-2S、SGW X-4系列
4、服务:提供仪器校验、3Q认证
六、操作方法
1、对新购仪器,按通电源,打开电源开关从显微镜中观察热台中心通光孔是否处于视场中,若左右偏,可松前开显微镜锁紧螺钉,左右调节,居中后,再锁紧该螺钉。前后不居中,可以松动热台两旁的两只螺钉,注意不要全部旋下来,只要松动即可,然后前后移动热台使其居中即可,再锁紧两只螺钉。
2、进行升温速率调整,开关拨到加热位置,这时可用秒表式手表来调整,在秒表某一值时,记录下这时的温度值,然后秒表转一圈(一分钟)时,再记录下温度值,这样连续记录下去,直到你所要求测量的熔点温度值,其升温速率为 1℃/分。如果太快或者太慢,可通过粗调和微调旋钮来调节,注意即使粗调或微调旋钮不动,但随着温度的升高,其升温速率会变慢。
3、当使用载玻片法测量时要得到准确的熔点值应先用熔点标准物质进行测温标定,求出修正值。(修正值=标准值-所测熔点值),作为测量时的修正依据。注意:标准物质的熔点值应和你所要测量的样品熔点值越接近越好。这时(样品的熔点值=该样品实测值+修正值)。
4、待测样品应放在干燥缸内进行干燥,或进行干燥处理,样品粉末要进行研细。
5、如需重复测量,应先降温,其降温温度至少要比被测物熔化温度低 10℃—15℃时,放入样品,开关拨到加热位置,即可进行重复测量。
6、测试完毕,应切断电源,当热台冷却到室温时,方可将仪器装入包装箱内。