MLP系列 日本mitaka非接触三维轮廓高精度测量装置

日本mitaka非接触三维轮廓高精度测量装置 MLP系列 特点介绍

MLP-3 专门从事传统坐标测量机、投影仪和激光显微镜无法实现的复杂测量。点自动对焦探头和每个轴的控制（包括旋转）解决了困扰测量人员的问题。

不受表面颜色/反射率影响的高精度测量

可以直接测量从表面反射率仅为 0.5% 的镀膜玻璃到反射率达到 90% 或更高的镜面。

从各个方向都可以接近

根据工件从最佳方向接近，高精度定量测量截面和三维形状

可观察测量点

内置摄像头可以让您持续观察测量点处的激光光斑和工件表面，从而可以准确掌握测量位置并进行测量。

粗糙度测量与国际标准高度相关

点自动对焦式与触针式粗糙度测量具有较高的相关性，可以获得高度可靠的数据。

日本mitaka非接触三维轮廓高精度测量装置 MLP系列 规格参数

使用MLP-3，可以以亚微米精度测量整个工件的内周和外周。

通过使用内径测量单元（另售），

可以评估内周和外周之间的配合，并使用标准评估软件“MITAKA MAP”评估与DXF数据的差异。

您不仅可以评估整个刀具的形状，还可以使用 MLP-3 对切削刃进行详细测量。

通过使用立铣刀测量辅助软件（另售）自动检测切削刃和刀尖，

可以通过简单的操作进行测量，并且可以最大限度地减少由于测量位置差异而导致的值变化。