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化工仪器网>产品展厅>物理特性分析仪器>测厚仪>镀层测厚仪> Thick 800A X射线荧光镀层测厚仪

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Thick 800A X射线荧光镀层测厚仪

参考价 ¥ 99999
订货量 ≥1
具体成交价以合同协议为准

联系方式:熊玲姣查看联系方式

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一般经营项目是:仪器的租赁;分析测试软件的技术咨询与销售;精密检测仪器的技术开发、技术咨询与销售;国内贸易。(法律、行政法规、决定禁止的项目除外,限制的项目须取得许可后方可经营),许可经营项目是:仪器的上门维修。


便携式X荧光有害元素分析仪,能量色散X荧光光谱仪

产地类别 国产 价格区间 面议
应用领域 综合

技术指标

分析元素范围:硫(S)~铀(U) 
同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层 
分析含量:一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同) 
SDD探测器:分辨率低至135eV
的微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头 
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合 
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 高速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:15℃~30℃




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