DR-H203L 高低温冲击试验箱制造商

高低温冲击试验箱制造商产品满足标准：
GB/T2423.1-2008试验A：低温试验方法；GB/T1058  9-2008低温试验箱技术条件；
GB/T2423.2-2008试验B：高温试验方法GB/T11158-2008高温试验箱技术条件；
GB/T2423.3-2006试验Cab：恒定湿热试验方法；GB/T10586-2006湿热试验箱技术条件；
GB/T2423.4-2008试验Db：交变湿热试验方法；GB/T10592-2008高低温试验箱技术条件；
GB/T2423.22-2002试验N：温度变化试验方法；GJ  B150.3高温试验；
IEC60068-2-1：2007低温试验箱试验方法；GJ  B150.4低温试验；
IEC60068-2-2：2007高温试验箱试验方法；GJ  B150.9湿热试验；

高低温冲击试验箱用途：

1、电子电器零组件：测试电子元件在温度急剧变化下的性能，以评估其可靠性和耐用性。
2、自动化零部件：确保自动化系统中使用的部件能够在温度下正常工作。

3、通讯组件：对通讯设备进行温度冲击测试，以保证其在不同温度环境下的通信质量。
4、汽车配件：测试汽车零部件在极寒或极热环境下的性能，以确保车辆在气候下的安全和性能。
5、金属、化学材料、塑胶等行业：评估这些材料在温度冲击下的物理和化学性质变化。
6、国防工业、航天、兵工业：对军事和航天设备进行严格的温度冲击测试，以确保其在战场或太空环境中的稳定性。
7、半导体和高分子材料：测试这些材料在温度冲击下的物理变化，以评估其适应性和可靠性。
8、科技研发：在产品研发阶段，帮助工程师发现潜在的设计缺陷和性能瓶颈，确保产品在条件下的稳定性。
高低温冲击试验箱通过模拟高温及极低温的连续环境下，测试产品因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害，从而确认产品的品质。这种试验对于从精密的IC到重机械的组件都是的。

高低温冲击试验箱制造商培训及售后服务：
1、售前服务：广东德瑞所有设备销售前为客户免费提供产品技术方案，并可根据客户要求提供现场讲解和技术咨询服务。
2、售后服务：广东德瑞所有设备销售后派出人员为客户免费提供产品使用培训，现场指导产品的使用和维护。
3、质量保证：广东德瑞所有设备保质期为验收之日起1年，在保质期内产品发生非人为质量问题，我厂为客户提供免费维修,客户还可以续费延长保修期。

电子元件的高低温冲击测试方法：

电子元件的高低温冲击测试是一种用于评估材料在温度变化下性能的实验方法，对于确保电子元件的可靠性和稳定性至关重要。以下是根据互联网搜索得到的结果，对电子元件的高低温冲击测试方法的概述：

测试目的：高低温冲击测试主要用于验证电子元件在剧烈的温度变化下的结构耐热胀冷缩性能，提高产品的可靠性和进行质量控制。

测试标准：进行高低温冲击测试时，通常会参照一些国际或国内标准，如GJb、GB/T、IEC、EN以及MIL-STD等。

测试范围：温度范围一般设定在-45℃至+85℃或更的温度，如-70°C至+200°C。

转换时间：温度转换时间应尽可能短，手动转换通常设定为2～3分钟，自动转换少于30秒，对于小试件则少于10秒。

循环次数：测试过程中的循环次数根据具体的检测标准要求而定，有的要求3次、5次或10次循环。

测试方法：高低温冲击测试主要有两种方法，气体法和液体法。气体法通过在高温箱和低温箱之间转换产品或使用冲击试验箱实现温度转换；液体法则通过将产品浸入不同温度的液体中实现。

测试设备：二箱式冷热冲击试验箱是一种常用的测试设备，其技术参数包括温度测试范围、提篮转换时间、测试区空间等。

测试过程：在测试过程中，产品通常不通电，试验结束后检查外观和通电测试产品功能。

重要参数：循环数、低环境温度、最高环境温度、转换时间、抽样数量等是进行高低温冲击测试时需要关注的重要参数。

试验结果：试验后应检查产品的外观、电气性能等，确保无异常，如结缘物包扎处应紧密均匀不松散，电线束中线路导通率为100%，无短路、错路现象。

通过上述方法，可以有效地对电子元件进行高低温冲击测试，以评估其在温度变化下的耐受能力和性能稳定性。