760500 红外焦平面探测器测试系统
- 公司名称 联合光科技(北京)有限公司
- 品牌 联合光科
- 型号 760500
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2024/3/29 12:53:37
- 访问次数 13
联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!
标准光学镜片,高功率激光窗口镜片,定制光学元件,偏振元件,英国ULO CO2红外光学材料,镜片,光学器件,光机械部件,压电电控平台,光学防震桌,光学调整架,手动位移台,光机组件,光桥系统,全系列高品质工业成像镜头,定焦,远心,线扫,变焦变倍,特殊定制镜头,照明光源,德国MarOpto轮廓仪,干涉仪,倾斜波干涉仪,斐索干涉仪,动态干涉仪,干涉测量软件,断面检测,表面检测,德国Dioptic ARGOS 表面疵病检测仪,光纤端面缺陷检测,日本壶坂Tsubosaka 镜头,相机鬼影,杂散光测试系统,可调色温,亮度光源,镜头焦点偏差,光圈,闪光灯,快门测量,手机防抖测试系统,太阳灯,美国 Bristol 非接触式测厚仪,美国Optometrics 衍射光栅,分光器件,线栅偏振片,Minichrom™ 单色仪等,德国Artifex-光功率计,跨阻抗放大器,门控积分放大器,LIV激光二极管和LED特性测试系统,积分球,激光二极管驱动器,波兰inframet 可见光电视相机测试系统(TVT),红外热像仪测试系统(DT、LAFT、SAFT),夜视仪测试系统(NVT、NVS、NVB),激光测距机测试系统(LT、LTF、LTE),二代像管像增强器测试系统(ITS-I、ITS-P、ITS-R),条纹管测试系统(SPT、STT),多传感器测试系统(JT、MS),被动式THz成像仪测试系统(THP),短波成像仪测试系统(ST),紫外成像仪测试系统(UT)以及红外热像仪计算机模拟器(Simterm)等,美国Headwall高光谱成像,拉曼光谱仪、衍射光学元件,SPF防晒指数测试仪,大气测量辐射计,光度计,Mini-Chrom单色仪,激光二极管测试分析系统,积分球,激光功率探测器,光伏测试太阳模拟器,固态光电倍增管等等
产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
---|---|---|---|
应用领域 | 综合 |
通常由探测器生产厂家提供的技术资料给出的信息对于电路设计者来说很有限。有时候厂家提供的参数并不是十分准确。采用改进的控制信号可以提高探测器的性能。结果设计团队肯要花费几年的时间来研发针对每种型号焦平面探测器的机芯。当采用不同的焦平面探测器是还需要重复整个过程。在这种情况下需要一个通用灵活的机芯可以与不同厂家的焦平面探测器匹配,并且能够半自动确定对某种探测器的控制信号。
FT焦平面测量系统是一个模块化测量系统,它能够完成如下两个任务。一是能够测量焦平面探测器的所有重要参数;而是能够半自动确定某种探测器控制信号。
红外焦平面探测器最终的产品(与读出电路集成的)是现代热像仪的核心。二维焦平面实际上可以看成是没有输入光学和输出观察系统的热像仪。有许多的一系列特性可以用来描述现代二代和三代红外焦平面。一些参数如MTF、NETD、FPN、非均匀性,相对光谱灵敏度曲线等和描述热像仪系统的参数是一致的。也有一些参数如串扰、点扫描,来源于传统分立探测器的特性参数如归一化NEP和D*是焦平面探测器所有的。
FT测量系统一个模块化的实验室内使用的系统。由于采用了模块化设计,FT测量系统可以方便快速地配置成三个半独立的测量的工作站放置在实验室光学平台上:FT-N,FT-I,和FT-S。
FT-N:测量红外焦平面探测器的噪声和响应特性
FT-I:测量红外焦平面探测器的成像质量特性
FT-S:测量红外焦平面探测器的光谱响应特性