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光学非接触式测厚仪

具体成交价以合同协议为准

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


联合光科技(北京)有限公司是一家以光学元件、激光光学元件、成像镜头、光机元件、光电仪器为主要产品的现货供应商,宗旨是为客户提供质量可靠的产品和优质的一站式采购服务。公司总部在北京,在山东泰安、深圳、长春、重庆、昆明、株洲等地设有办事处、检测中心和生产基地;拥有铣磨机、研磨机、抛光机、镀膜机等加工设备若干台,同时拥有ZYGO 激光干涉仪、LAMDA 750分光光度计、ZEISS 三坐标测量仪、TRIOPTICS 测角仪、 TRIOPTICS 高精度MTF测量仪、德国ARGOS 光学元件表面自动检测系统、OptiCentric单光路中心偏测量仪等检测仪器设备若干台,对标行业标准客户提供高性价比的现货标准品及定制服务。 公司目前有上万种现货光学元件、成像镜头、光机元件等标准品供您选择,与此同时,我们也在不断优化丰富产品种类,争取为您提供更好的服务。 产品方面:公司配备有专业的检测设备,对标科研标准。 服务方面:公司配套的专业人员,通过售前支持和售后的维护来保障客户的权益。 销售方面:公司总部位于北京,同时在深圳、上海、山东、长春设立办事处,可以更好的服务客户。 希望我们的产品可以替代昂贵的进口产品,让我们的产品在客户手中发挥作用,客户可以体验到高性价比。 我们也会不断丰富产品的种类,同时要追求更高的产品质量和高品质服务,与用户共同成长,为中国光学事业的进步,贡献一份力量。

主要产品:

l  光学元件(标准光学镜片、高功率激光窗口镜片、定制光学元件、偏振元件)

l  英国ULO CO2红外光学材料、镜片、光学器件

l  光机械部件(压电电控平台,光学防震桌,光学调整架,手动位移台,光机组件,光桥系统)

l  全系列高品质工业成像镜头(定焦/远心/线扫/变焦变倍/特殊定制镜头)、照明光源

l  光学测量仪器

Ø  德国MarOpto- 轮廓仪、干涉仪(倾斜波干涉仪、斐索干涉仪、动态干涉仪、干涉测量软件、断面检测、表面检测)

Ø  德国Dioptic- ARGOS 表面疵病检测仪、光纤端面缺陷检测

Ø  日本壶坂Tsubosaka-镜头/相机鬼影、杂散光测试系统;可调色温、亮度光源;镜头焦点偏差、光圈、闪光灯、快门测量、手机防抖测试系统;太阳灯

Ø  美国 Bristol- 非接触式测厚仪

Ø  美国Optometrics- 衍射光栅、分光器件、线栅偏振片、Minichrom™ 单色仪等

Ø  德国Artifex-光功率计、跨阻抗放大器、门控积分放大器、LIV激光二极管和LED特性测试系统、积分球、激光二极管驱动器

Ø  波兰inframet-可见光电视相机测试系统(TVT)、红外热像仪测试系统(DTLAFTSAFT)、夜视仪测试系统(NVTNVSNVB)、激光测距机测试系统(LTLTFLTE)、二代像管像增强器测试系统(ITS-IITS-PITS-R)、条纹管测试系统(SPTSTT)、多传感器测试系统(JTMS)、被动式THz成像仪测试系统(THP)、短波成像仪测试系统(ST)、紫外成像仪测试系统(UT)以及红外热像仪计算机模拟器(Simterm)等

Ø  美国Headwall -高光谱成像、拉曼光谱仪、衍射光学元件

Ø  其他-SPF防晒指数测试仪;大气测量辐射计/光度计;Mini-Chrom单色仪;激光二极管测试分析系统;积分球;激光功率探测器;光伏测试太阳模拟器;固态光电倍增管等等


标准光学镜片,高功率激光窗口镜片,定制光学元件,偏振元件,英国ULO CO2红外光学材料,镜片,光学器件,光机械部件,压电电控平台,光学防震桌,光学调整架,手动位移台,光机组件,光桥系统,全系列高品质工业成像镜头,定焦,远心,线扫,变焦变倍,特殊定制镜头,照明光源,德国MarOpto轮廓仪,干涉仪,倾斜波干涉仪,斐索干涉仪,动态干涉仪,干涉测量软件,断面检测,表面检测,德国Dioptic ARGOS 表面疵病检测仪,光纤端面缺陷检测,日本壶坂Tsubosaka 镜头,相机鬼影,杂散光测试系统,可调色温,亮度光源,镜头焦点偏差,光圈,闪光灯,快门测量,手机防抖测试系统,太阳灯,美国 Bristol 非接触式测厚仪,美国Optometrics 衍射光栅,分光器件,线栅偏振片,Minichrom™ 单色仪等,德国Artifex-光功率计,跨阻抗放大器,门控积分放大器,LIV激光二极管和LED特性测试系统,积分球,激光二极管驱动器,波兰inframet 可见光电视相机测试系统(TVT),红外热像仪测试系统(DT、LAFT、SAFT),夜视仪测试系统(NVT、NVS、NVB),激光测距机测试系统(LT、LTF、LTE),二代像管像增强器测试系统(ITS-I、ITS-P、ITS-R),条纹管测试系统(SPT、STT),多传感器测试系统(JT、MS),被动式THz成像仪测试系统(THP),短波成像仪测试系统(ST),紫外成像仪测试系统(UT)以及红外热像仪计算机模拟器(Simterm)等,美国Headwall高光谱成像,拉曼光谱仪、衍射光学元件,SPF防晒指数测试仪,大气测量辐射计,光度计,Mini-Chrom单色仪,激光二极管测试分析系统,积分球,激光功率探测器,光伏测试太阳模拟器,固态光电倍增管等等

产地类别 国产 价格区间 面议
应用领域 综合

LensThick非接触式光学测厚仪利用低相干光干涉测量方法来精确测量厚度,以宽谱光源作为相干光源,其相干长度短,只有在测量光和参考光的光程相等时才能产生干涉峰值,因此具有很好的空间定位特性,测厚仪内置光学干涉仪,通过计算透镜前后镜面顶点对应干涉峰之间的距离变化可以得出透镜的中心厚度。

LensThick非接触式光学测厚仪的操作简单,每次可轻松获得可靠的厚度值。测量数据经过数字信号处理器计算,通过USB传输到PC,再以图形的形式显示在用户界面,可直接读取每层厚度值,操作更简单、更直观。
典型应用 

  • 光学元件和透镜组件:测量单个镜片以及镜头组包括空气间隔

  • LCD、LED、OLED和AMOLED显示屏:测量总厚度和各层厚度,包括LOCA(液体光学透明粘合剂)层

  • 抛光玻璃:测量化学腐蚀前后的厚度或抛光工艺,使玻璃板更薄、更轻

  • 半导体:硅/砷化镓晶片

Lens Thick非接触式光学测厚仪主要优势

  • 非接触式测量,不会造成元件表面损坏或变形。

  • 最多可同时测量31层厚度。

  • 用于精确定位测量位置的可见光束。

  • 精度±0.1微米。

  • 基于内部固有长度标 准,实时显示测量数据。

  • 测量重复性达±0.02微米。

  • 测量结果可追溯至NIST标准。

  • 集成装置,操作简便。

  • 测量最小物理厚度可达16微米(折射率1.5时)。


 

测量过程
  • 将光学测量头对准被测产品。

  • 激光通过光学测量头照射到材料表面。

  • 光学测量头收集反射光并将其返回到系统的干涉仪进行分析。

  • 测量数据通过USB传输到电脑。

  • LensThick软件用于显示测量结果、设置参数及输出数据报告。


测量软件
光学测厚仪使用LensThick软件可实时显示被测试产品的厚度和干涉信号,以便实时优化。
自动峰值模式:使用操作员创建的样品设计文件,可以定义最多32个反射面(31层)的预期峰值位置,软件可自动识别在适合的阈度内接近预期峰值位置的峰值,从而计算并输出每层的厚度。
此外,软件还带有判据功能,即超出设计值的公差范围,数据显示为红色。这些功能对质量控制是非常快速有效的。
 

软件界面测量原理图



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