HM-SR-AFM 原子力超分辨联用系统实现荧光与形貌成像
| 参考价 | ¥ 2600000 |
| 订货量 | ≥1件 |
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 广州微视光学科技有限公司
- 品牌 微视（HM）
- 型号 HM-SR-AFM
- 产地 广州市黄浦区永龙大道88号
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2024/3/27 15:09:47
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| 产地类别 | 国产 | 价格区间 | 250万-300万 |
|---|---|---|---|
| 样品台移动范围 | 10mm*12mmmm*mm | 仪器种类 | 原子力显微镜 |
| 应用领域 | 生物产业 |
原子力超分辨联用系统实现荧光与形貌成像
原子力显微镜（AFM）是一种高空间分辨率的形貌成像技术，并能进行力学研究，但AFM难以提供分子种类信息。根据STORM和AFM各自的优缺点，提出一种新型的超分辨荧光和形貌显微镜（AFM-STORM）联用技术，同步实现超高分辨的荧光和形貌成像。
原子力超分辨联用系统实现荧光与形貌成像参数：
联用系统成像范围 | 50 mm×50 mm |
AFM显微镜分辨率 | 横向分辨率为 10 nm 垂直分辨率为 0.1 nm |
STORM 成像分辨率 | 20nm |
AFM显微镜采集速度 | ＜60s @ 128 point / line |
AFM可测样品深度 | 6mm |
AFM扫描范围 | 不小于100mm×100mm×10mm |
AFM测量头尺寸 | 143mm×158mm×53mm |
AFM测量头重量 | 1.25kg |
联用样品台行程 | 12mm×12mm |
中心可调整范围 | 1x1 mm |
测量模式 | 静态力模式、横向力模式、动态力模式 |
谱线测量模式 | 力与距离曲线，振幅–距离曲线，电压–距离曲线 |
样点数 | 8000 X 8000 |
XY斜率补偿功能 | 硬件补偿，保证样品倾斜的准确测量 |
超分辨参数：
可实现直径200μm明场照明区域的高分辨成像。显微镜样品载物台、对焦位移均采用高精度电控器件，可实现样品X、Y两轴微米级定位和纳米级精度对焦调节。显微镜主体采用无目镜的数字图像预览模式，可以通过主体前部触控模块对当前明场成像进行预览。触控模块具有集成度高、易用性好、用户交互友好的设计特点，可通过触控方式实现载物台位移、显微镜对焦、预览成像参数等功能的控制。显微镜具有一个成像相机接口，接口格式为C卡口，可适配多种高性能成像相机产品，通过成像控制软件的设计，可实现高于50fps的图像采集速度。
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