P501/P503 set Langer射频耦合套组（IC测试系统）

Langer射频耦合套组（IC测试系统）

品牌：Langer EMV-Technik   

型号：P501/P503 set

Langer IEC 62132-4射频注入功率到3GHz

Langer射频耦合套组（IC测试系统）P501/P503 set介绍：

使用 Langer EMV-Technology 的探针测量的优势在使用 P500系列(P501，P502，P503)的探针进行抗扰测量期间，每个单独的 IC 引脚(例如 QFP，QFN 封装)甚至 BGA 的球可以单独接触并暴露于 RF。测量对应于根据 IEC 62132-4的 DPI 方法，其中通常连接在引脚处用于耦合 RF 的网络包括在相应的探针中。这使得测量的频率范围可以扩展到3GHz。此外，探针包含一个集成的电流和电压测量，这使得 IC 的优化以及应用要求的定义成为可能。

Langer射频耦合套组（IC测试系统）P501/P503 set配置:

1x P501, DPI耦合网络（~3GHz，50V）

1x P503, DPI 耦合网络（~1GHz，50V）

1x SMA-SMA 1 m ds

2x SMA-SMB 1 m ds

1x NT FRI EU

1x P500 case

1x P500 qg

1x P500 m

简短的介绍：

P501型耦合网络按照IEC 62132-4标准在集成电路引脚中进行射频供电。当施加干扰时能够在集成的测量输出端口分别测量电流和电压。P501型耦合网络工作时与一个功率放大器相连。

P503型耦合网络按照IEC 62132-4标准在集成电路引脚中进行射频供电。当施加干扰时能够在集成的测量输出端口分别测量电流和电压。P503型耦合网络工作时与一个功率放大器相连。