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化工仪器网>产品展厅>光学仪器及设备>电子显微镜>扫描探针显微镜SPM(原子力显微镜AFM)> 布鲁克大样品台AFM Dimension

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布鲁克大样品台AFM Dimension

参考价 ¥ 1000000
订货量 ≥1
具体成交价以合同协议为准
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AFM布鲁克Dimension

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


北京伊微视科技有限公司是一家专注于提供显微、膜厚测量以及光电测试设备的企业。

我们致力于为客户提供全面的显微设备,涵盖从毫米到纳米级别的多个领域。我们的产品线包括样品制备设备、体式显微镜、数码显微镜、金相显微镜、平面度测试仪、3D表面轮廓仪、扫描电子显微镜、原子力显微镜以及透明晶圆缺陷扫描仪。

此外,我们还提供专业的薄膜测量设备,包括透明/半透明薄膜的反射光谱测量仪、用于纳米级别测量的椭偏仪,以及针对不透光金属镀膜的X荧光光谱测量仪。

在光电测量设备领域,我们正在不断拓展我们的产品线,已代理的产品包括Sinton的少子寿命测试和Fluxim测量软件。

尺有所短寸有所长,每一个品牌,每一台设备亦如此。在客户的需求上,提供解决方案,是我们服务的宗旨。我们不仅仅是设备的销售商,更是为客户提供解决方案的合作伙伴。



金相显微镜,平面度测试仪,3D表面轮廓仪,扫描电子显微镜,原子力显微镜以及透明晶圆缺陷扫描仪。

产地类别 进口 价格区间 50万-100万
仪器种类 原子力显微镜 应用领域 综合

简介:

布鲁克大样品台AFM Dimension 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的AFM应用体验,其测试功能强大,操作简便易行。仍然以世界上应用广泛的AFM大样品平台为基础,齐集Dimension系统数十年的技术经验,广大客户反馈,结合工业领域的设备需求,进行全面革新。全新的系统设计,实现了低漂移和低噪音水平,现在用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。Dimension Icon还配备了Bruker技术ScanAsyst(自动扫描成像模式),用户可以简易快捷地获得重复性更好的数据,并且降低了对客户操作经验和操作水平的要求。作为目前配置ZG的AFM,保证客户高效完成所需的检测任务。

优势:

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1、性能:的传感器设计,在闭环条件下,也能实现大样品台、针尖扫描的AFM具有与开环噪音水平一样的低噪音水平,且具有扫描分辨率。极大地降低噪声水平,在轻敲模式下低于30pm,接触模式下可获得原子级图像。

热漂移速率低于200pm/分钟,获得真正的样品图像

2、高效率XYZ闭环扫描器的设计,使仪器在较高扫描速度工作时,也不降低图像质量,具有更大的数据采集效率将十年的研发经验融入到参数预设置中,在新的NanoScope® 软件带有默认的实验模式。高分辨率相机和X-Y定位可快速、高效地找到样品测量位置

3、全功能针尖和样品之间开放式的空间设计,不仅可以进行各种标准实验,也可以自行设计实验方案,满足不同研究工作的需求硬件和软件技术方面的不断创新,新开发的HarmoniX模式,可以测量纳米尺度上材料性质用户实用程序脚本提供半自动测量方案和数据分析

案例:

表现

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使用 Dimension 系列原子力显微镜发表文章数目远远多于其他大样品台原子力显微镜,成为科研领域的原子力显微镜型号之一。布鲁克大样品台AFM Dimension lcon在原有的操作平台上引入技术,拥有更高的成像功能和更快的测量速度,更好的人机结合界面,与以往的任何AFM技术相比,其测量成像过程都更加简便快捷。Dimensionlcon用户无需进行传统的AFM 操作需要几小时仪器调试和仪器预热,就可以立即获得高质量的结果。Dimmension lcon从开放式针尖样品空间,到软件参数设置都经过特殊设计,为成功实现上述功能。

案例2.png


每分钟少于 200pm 的热漂移速率,全新直观的用户界面, Dimension AFM平台,三者结合为这台仪器提供了操作性能,保证你在短时间内得到测试结果并发表出版。

获得梦寐以求的研究方案:

在科学技术迅猛发展的今天,科研人员需要迅速发现研究工作中的每一个突破口,抓住机遇取得实验进展,以求立于不败之地。除了拥有敏锐的科研洞察力,还要配备得心应手的研究设备和研究工具。Dimension lcon 就是 Bruker 为您提供的一款强大平台。拥有低噪音的闭环扫描器,更高的分辨率,更快地获取数据的速率,和当前大的AFM 控制器,帮助您完成实验设想,甚至得到意想不到的数据。

案例3.png


材料成像:Icon支持Bruker技术PeakForce ONMI成像模式,研究者在获得高分辨率形貌图像的同时,还可以对样品进行纳米定量力学性能测试,同时获得高分辨成像。此技术适用范围很广(模量从1MPa到 50GPa,粘附力从10pN到10uN),可以对不同类型的样品进行表征。

电学表征:模式,可以以更高的灵敏度和更大的动态范围上实现电学表征。把这些研究与其他技术结合起来,比如Dark Lif,可在扫描电容显微镜,扫描扩散电阻显微镜,扭转共振隧道电流原子力显微镜中获得真正的无假象数据。

纳米操纵:可实现在纳米和分子级别的纳米操纵和刻蚀。Icon的 XYZ闭环扫描器可实现无压电蠕变效应和超低噪音的精密探针定位,适用于任何纳米操纵系统。

加热和冷却:使用AFM不同模式扫描的同时,可实现-35°C到 250°C的温度控制和热分析。使用热探针可以在小于100nm的样品局部加热,达到400°℃。




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