YP-XM 小麦表型测量仪

优云谱小麦表型测量仪

小麦育种研究中，小麦表型参数至关重要，小麦表型检测仪可用于小麦株高、夹角、基粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标的测量，可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。这些表型参数在小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种中发挥着至关重要的作用。软件集合多方面功能为一体，一站式解决小麦的表型参数测量问题。广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的小麦研究。

优云谱小麦表型测量仪应用广泛：

1、小麦亩穗数检测合适时期： 小麦抽穗期、开花期、灌浆期、成熟前期的小麦。

2、麦穗形态测量的时期：室内考种时期：

3、小麦夹角测量时期：抽穗期、开花期、灌浆期、乳熟期。

4、千粒重测量时期： 室内考种时期。

5、小麦株高测量时期： 各个生育时期。

三、技术参数：

测量范围和误差： 

1、小麦亩穗数测量误差： ≤±5%。 

2、麦穗形态测量范围：   5~20cm。

穗长误差：      ±2%。 

小穗数误差：    ≤ 3个。 

3、小麦夹角测量范围：   0-180°。   

作物粗：        0-5.2cm。 

夹角测量误差：  +5%。 

4、作物茎粗测量误差：   ±1%。 

5、千粒重测量误差：     ±2%。 

6、株高测量范围：       0.1-1.1m。 

测量误差：      ±1%。