顺序式波长色散X荧光光谱仪

技术指标

进样系统
样品形式：固体
样品尺寸：大51.5 mm  × 40 mm
样品重量：重500g
进样系统：双进样系统，标备除尘过滤器和预抽真空系统；一个样品测量的同时给另一个样品预抽真空，互不干扰
自动进样机：自动机械手进样系统，多可装168个样品
自旋装置：3种自旋速度(低、中、高)
X射线光管
铍窗：50um/75um超薄铍窗，用以保证X射线的高通过率
阳极靶材料：标配铑靶，可选铜靶、钼靶、钨靶，铬靶，铂靶等
工作模式：样品进样时保持工作状态不变
水冷系统：双路水循环系统，电导率保持在1uS以下
高压电源
输出方式：1kV和1mA的标准调节单位，通过12位DA进行精细调节
长时间稳定性：0.01%/8 hours
温度稳定性：50 ppm/C
(20 ppm/C可选).
数据
功率：4kW
KV/mA范围：电压20-60KV，电流10-140mA；大电压75kV，电流160mA可选.
测角仪
工作模式：创新型钢带传动系统，无摩擦，无回程间隙，带有圆光栅反馈，θ/2θ两轴独立运动
大转角速度：6000  2θ/min
测角精度：0.0006° θ / 2θ
测角重复性：0.0002° θ / 2θ
步进角度：小 0.0001°，大1°
角度扫描范围：流气比例计数器:12° to 150°@2θ
闪烁计数器: 0° to 120°@2θ
光路
准直器面罩：单面罩，(其他尺寸27， 32 or 50mm可选)
主准直器：多可装3个: 100， 150， 300， 550， 700 or 4000 um， 可选
主滤光片：多4片: Pb，Al，Cu等元素可选
晶体：多10个: LiF420，LiF220，LiF200，Ge111，PE002，InSb， TIAP，以及用于轻元素测量的各种人工多层膜晶体.
探测器：流气比例计数器 (FPC)， 可配0.3um厚的窗膜
闪烁计数器 (SC)
光室真空度：<15Pa
信号处理
数字多道分析仪：12位，80M/s采样速度，4096道分析能力，采用FPGA框架以及可靠的DSP算法用于信号和噪声分离
大计数率：流气比例计数器:3Mcps
闪烁计数器: 1.5Mcps
脉冲漂移和增益校正：自动

时间校正：自动

可以根据需要设定任意位置样品优先测量(软件设置或感应位设置)
最大电流≥160mA , 5-160 mA间1 mA连续可调
稳定性：外电源波动±1%时，输出波动为≤±0.00005%
最高设计功率≥4.2kW ，最高设计电压≥75kV，最高设计电流≥200mA
角度准确度：≤ 0.001°