SEEG100 脑电性能测试仪

脑电性能测试仪SEEG100

概述

依据最新的 EEG 国际法规标准 IEC 80601-2-26:2019 所设计

精密电路设计，可输出 1µV 微小讯号

9 信道自动切换开关可作个别信道的性能测试

内建 620kΩ / 4.7nF 输出阻抗测试的 EEG 标准测试电路

可做为 EEG 讯号播放器，可播放 PhysioNet EDF、text、binary 格式的波形讯号

IEC 80601-2-26 小帮手可简化法规标准测试所需花费的人力与时间

提供软件开发工具包（Software Development Kit，SDK），用户可自行开发客制或全自动化测试软件

规格

参数规格

主输出电压精确度50 µVpp 或更高的振幅，精细度需在 ±1％ 內

主输出电压分辨率（DAC 分辨率）0.5µV

频率/脉冲精确度±1%

脉冲间期/时间精确度±1ms

电阻精确度±1%

电容精确度±5%

精密 500:1 分压器±0.2%

取样率5kHz ± 0.1%

直流偏移（内部超级电容提供的固定电压、无噪声偏移）150mV ± 1%

直流偏移（细调，最多可包含 50μVpp 噪声）设定 ±1% 或 ±3mV

电源供应USB +5V 直流电源（不需要再外加其他电源）0.5A（高功率模式）

环境15 ~ 30°C（理论值）

30 ~ 80% RH（理论值）

安全性

电磁兼容性（EMC）没有适用的安全标准（最大内部电压 12Vdc） 尚未进行 EMC 测试。 符合 CE 标志，并有作 USB IC 的保护，及特殊的滤波器，以减少来自微处理器（8MHz）和 DC / DC 转换器（200kHz）的噪声。

脑电性能测试仪SEEG100