泰克DSA8300数字采样示波器tektronix

Tektronix泰克DSA8300数字采样示波器

主要性能指标

光接口分辨率从 80C07B（1 mW 全量程）的 <20 nW 到 80C10C（30 mW 全量程）的 <0.6 µW

光接口带宽 >80 GHz

电接口带宽 >70 GHz

为 NRZ、RZ 和脉冲信号类型提供了超过 120 种自动测量功能

低时基抖动:

  8 条同时采集的通道上典型值为 425 fs

82A04B 相位基准模块中，最多 6 条通道上 <100 fs

垂直分辨率 – 16 位模数转换器

电接口分辨率：<20 µV LSB（适用于 1 v 全量程）

80 多种行业标准模板，自动进行模板测试

主要特点

各种光接口模块、电接口模块和附件模块可以满足您的特定测试要求。

光接口模块

支持从 155 Mb/s 到 10 Gb/s、40 Gb/s、100 Gb/s 和 50G/100G/200G/400G PAM4 光数据速率的光模块

光基准接收机(ORR) 1 满足了标准规定的一致性测试中 的要求

光接口采样模块提供了高光学灵敏度、低噪声及宽动态范围，可以准确地测试和检定短程到远程光接口通信标准

经过全面校准的时钟恢复解决方案 – 不需要手动校准数据捡拾损耗

已校准消光比测量和变量校正 ER 测量可确保精度和重复能力

电接口模块

超低噪声电采样器（20GHz 时 280 μV，60GHz 时 450 μV，典型值）

可以选择带宽2，用户可以平衡带宽和噪声，实现的数据采集性能

远程采样器或紧凑的采样扩展器模块电缆 限度地减少信号劣化，因为采样器可以放在被测器件附近

高性能集成 TDR（10 ps 典型步进上升时间）支持杰出的阻抗不连续性检定，对带宽高达 50GHz 的 S 参数测量提供了高动态范围

分析

对速率在 <1 GBd 到 60 GBd 之间的高速 PAM4 和 PAM2 NRZ 串行数据执行抖动、噪声和 BER

80STDEC 简化了高性能发射机和色散眼图闭合 (TDEC) 测量，使其非常适合生产和一致性验证应用

自动模板测试，支持 80 多种行业标准模板。新模板可以导入 DSA8300，支持各种新兴标准。用户可以定义自己的模板，自动进行模板测试

抖动、噪声、BER、模板测试和串行数据链路分析 (SDLA) 通过 80SJNB Essentials 和 Advanced 应用软件选项提供

高级 TDR 分析、S 参数测量、仿真模型提取和串行链路仿真功能通过 IConnect® 应用软件选项提供

400G-M4 光制造分析软件提供了光发射机和色散眼图闭合象限(TDECQ)分析功能

高测试吞吐量

每条通道高达 200 kS/s 的高采样率

高效编程接口（IEEE-488、以太网或本地处理器接入）实现高测试吞吐量

泰克DSA8300数字采样示波器tektronix

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