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颗粒统计分析测量系统

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复纳科学仪器(上海)有限公司(简称“复纳科技”)于 2012 年在上海成立,聚焦荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和应用,涵盖领域包括材料、锂电新能源、半导体、生命科学和法医检测等。

截止目前,复纳科技服务超过 1500 家飞纳电镜客户和 100 家相关产品客户,包括:清华大学、北京大学、复旦大学、上海交通大学、华南理工大学和中科院系统等高校科研单位;巴斯夫、宁德时代、微软、默克和出入境检验局等企事业单位。

2017 年开始,复纳科技陆续与 7 家行业品牌建立了长期合作,致力于为中国高校、研究所、企业和政府用户提供先进可靠、高效智能的科学分析仪器、优质专业的服务和基于核心技术的解决方案。目前已引进先进的:DENSsolutions TEM原位样品杆,飞纳台式扫描电镜,NEOSCAN台式高分辨显微 CT,ForgeNano原子层沉积、 Technoorg Linda SEM/TEM样品制备和VSParticle 纳米气溶胶沉积等设备。

十年以来,复纳科技赋能中国科研创新、工业升级,人工智能检测的使命也越来越清晰。




台式扫描电镜,SEM / TEM 样品制备,ALD 原子层沉积,TEM 原位样品杆,X 射线显微 CT

颗粒尺寸范围 100 nm – 0.1 mm 颗粒探测速度 高达 1000 个/分钟
测量属性 大小、形状、数量

颗粒统计分析测量系统 

使用飞纳台式扫描电镜的颗粒统计分析测量系统,以快速、 简便的方式实现颗粒的可视化分析。颗粒统计分析测量系统支持用户在电镜操作界面直接收集多种亚微米颗粒的形态和尺寸数据。超越光学显微镜分析,自动化的颗粒统计分析测量系统把可视化分析提高到了一个新台阶,这将在粉末设计、开发和质量控制中产生进一步的探索和创新。

柱状图、散点图和生成的图像可以选定格式导出,并生成报告。所有被测颗粒的柱状图都可以显示为数量分布或体积分布。散点图可以从颗粒属性的任意组合中绘制出来,以揭示相关性和趋势。飞纳电镜的颗粒系统支持用户获得他们需要的数据。因此,颗粒系统加快了颗粒分析速度,提高了产品质量。

1)联机或脱机分析;
2)收集颗粒的属性数据,例如当量直径、圆度、长轴短轴比、凸包度等;
3)借助超大视野拼图软件,可获得大量颗粒的分析数据;

4)先进的识别算法,用户自由选择默认设置或高级设置。



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