基于计算机断层扫描显微成像技术（micro-CT）的SKYSCAN 1272 CMOS，是一套创新的、高分辨率的台式三维X射线显微成像系统，整合了最新的X射线技术。
1600万像素sCMOS X射线探测器提供了高的分辨率，可生成高对比度图像。扩展的探测器视野和增强的X射线灵敏度使扫描时间缩短了一倍。每个切片的原始分辨率高达11200 x 11200像素，可以在不重新扫描样品的情况下放大到三维体积的任何部分。新的Clean Image™扫描模式从一开始就大大减少了典型的CT伪影，从而提供了高质量的图像，无需繁琐的事后校正。
布鲁克台式SKYSCAN 1272 CMOS版可以放置在任何实验室的实验台上，无需占用大量昂贵的实验室空间。只需一个标准的家用电源插头即可运行，也不需要水冷或额外的压缩机。此外，工业级的密封X射线源是免维护的，因此也没有其他隐性成本。SKYSCAN 1272搭载3D.SUITE软件。这个全面的软件包涵盖了GPU加速重建、2D/3D形态学分析以及表面和体积渲染的可视化。
SKYSCAN 1272 高分辨率三维 X 射线显微镜特点：
Genius模式
SKYSCAN 1272凭借Genius模式可自动选择参数。只需单击一下，即可自动优化放大率、能量、过滤、曝光时间和背景校正。
而且，由于能让样品和大尺寸sCMOS镜头尽可能地靠近光源，它能大幅地增加实测的信号强度。正是因为这个原因，SKYSCAN 1272的扫描速度比探测器位置固定的常规系统最多可快5倍。
自动进样器
SKYSCAN 1272可以选择配合一个有16个位置的外置自动进样器，以增加进行质量控制和常规分析时的处理速度。
自动进样器可以容纳不同尺寸的样品，样品直径最大可达25 mm。
可以随时很方便地切换样品，不会中断正在进行的扫描过程。系统可以自动检测新样品，LED可以显示每一次扫描的状态：准备、扫描和完成。
原位试验台
布鲁克的材料试验台可以进行最大4400 N的压缩试验和最大440 N的拉伸试验。所有试验台都能通过系统的旋转台自动联系到一起，而无需任何外接线缆。通过使用所提供的软件，可以设置预定扫描试验。
布鲁克的加热台和冷却台可以达到最高+80ºC或z低低于环境温度低30ºC的温度。和其它的试验台一样，加热和冷却台也不需要任何额外的连接，系统可以自动地识别不同的试验台。通过使用加热台和冷却台，可在非环境条件下检测样品，从而评估温度对样品微观结构的影响。
SKYSCAN 1272 高分辨率三维 X 射线显微镜技术参数：
特点 | 参数 | 优势 |
X射线源 | 40 – 100 kV 10 W < 5 µm 点尺寸，4 W | 免维护、全密封的X射线源 通过快速扫描实现质量控制，或4D XRM |
X射线探测器 | 16 MP sCMOS 探测器（4096 x 4096 像素） | 排列精密的探测器可实现最高分辨率 |
样品尺寸 | 最大直径 75 毫米 最大高度70 毫米 | 适用于小-中等尺寸样品 |
自动进样器（可选） | 16种样品，直径最大可达25 mm 外置 | 无人值守，高通量 大小样品随意组合 随时添加/取出样品，不中断扫描过程 |
尺寸 | 1160 mm x 520 mm x 330 mm（宽x深x高） 重量 150 千克 | 节省空间的、适合每一个实验室的台式系统 |
电源 | 100-240V AC，50-60Hz，最大3A | 安装需求低，标准电源即能满足要求 |
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