多功能电子元件测试仪芯片推拉力测试机

推拉力测试机采用了AUTO-RANGE技术和VPM垂直定位技术，测试传感器采用自动量程设计，分辨率高达达0.0001克。力标推拉力测试机（多功能剪切力测试仪）是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器，是的微电子和电子制造领域的重要仪器设备。该设备测试迅速、准确、适用面广、测试精度高，适用于半导体IC封装测试、LED封装测试、光电子器件封装测试、 PCBA电子组装测试、汽车电子、航空航天、等等。亦可用于各种电子分析及研究单位失效分析领域以及各类院校教学和研究。多功能电子元件测试仪芯片推拉力测试机

半导体推力测试仪亦可称之为大面积推拉力试验机，可进行拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、压陷硬度、低周疲劳等各项物理力学试验。还能自动求取大试验力、断裂力、屈服HRb、抗拉强度、弯曲强度，弹性模量、伸长率、定伸长应力、定应力伸长、定应压缩等，故广泛应用于半导体封装、LED封装、智慧卡封装、通讯电子、汽车电子产业及各类研究所、大专院校、电子电路失分析与测试等领域。多功能电子元件测试仪芯片推拉力测试机

设备特点

1.所有传感器采用高速动态传感及高速数据采集系统，确保测试数据的准确无误。

2.采用公司研发的高分辨率(24 BitPlus超高分辨率)的数据采集系统。

3.采用公司的安全限位及安全限速技术，让操作得心应手。

4.采用公司的智能灯光控制与调节系统，减少光源对视力的损伤。

5.标配高清观察显微镜，减少人员视觉疲劳。

6.双摇杆四向操作及人性化的软件配置使操作简单、方便。

7.结合人体学的设计，让使用更加舒适。

8.设备的保护措施，避免因人员误操作对设备的损坏。

9.强大的研发实力，根据客户的需求提供订制化产品。

10.贴心的售后服务，让使用人员无后顾之忧。

测试模块范围：

测试参数

设备型号:  LB-8100A

外形尺寸:  650mm*600mm*760mm(含左右操作手柄）

设备重量:  约 80KG

电源供应： 110V/220V@3.0A 50/60Hz

气压供应： 4.5-6Bar

控制电脑： 联想/惠普原装 PC

电脑系统： Windows7/Windows10 正版系统

显微镜： 标配高清连续变倍显微镜（可选配三目显微镜+高清 CCD 相机）

传感器更换方式： 手动更换（根据测试需要选择相应的测试模组，软件自动识别模组量程）

平台治具： 360 度旋转，平台可共用各种测试治具

XY 轴丝杆有效行程：100mm*100mm 配真空平台可拓展至 200mm*200mm，测试力 200KG

XY 轴移动速度： 采用霍尔摇杆对 XY 轴自由控制，移动速度为 6mm/S

XY 轴丝杆精度： 重复精度±5um 分辩率≤0.125 ；2mm 以内精度±2um

Z 轴丝杆有效行程： 100mm 分辩率≤0.125um，测试力 20KG

Z 轴移动速度： 采用霍尔摇杆对 Z 轴自由控制，移动速度为 8mm/S

Z 轴丝杆精度： ±2um 剪切精度：2mm 以内精度±1um

传感器精度： 传感器精度±0.003%；综合测试精度±0.25%

设备治具：  根据样品或图纸按产品设计治具（出厂标配一套）

设备校正：  设备出厂标配相应校正治具及砝码一套

质量保证：  设备整机质保 2 年，软件升（人为损坏不含）

推拉力检测仪，很多朋友又称它为多功能剪切力测试仪，主要是用于光模块、TO封装、5G光器件封装、合金线、粗铝线键合汽车电子、航空航天、微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器，具有测试动作迅速、准确、适用面广的特点。亦可用于各种电子分析及研究单位失效分析领域以及各类院校教学和研究。