无锡冠亚恒温制冷技术有限公司的半导体控温解决方案

主要产品包括半导体专⽤温控设备、射流式⾼低温冲击测试机和半导体⽤⼯艺废⽓处理装置等⽤设备，

⼴泛应⽤于半导体、LED、LCD、太阳能光伏等领域。

【 冠亚制冷 】半导体行业主营控温产品：

半导体专温控设备

射流式⾼低温冲击测试机

半导体专用温控设备chiller

Chiller气体降温控温系统

Chiller直冷型

循环风控温装置

半导体⾼低温测试设备

电⼦设备⾼温低温恒温测试冷热源

射流式高低温冲击测试机

快速温变控温卡盘

数据中心液冷解决方案

直冷型制冷-150Chiller 传感器可靠性试验

直冷型制冷-150Chiller 传感器可靠性试验

射流式高低温冲击测试机给芯片、模块、集成电路板、电子元器件等提供精确且快速的环境温度。

是对产品电性能测试、失效分析、可靠性评估的仪器设备。

温度控制范围：-120℃ 至+300℃，升降温速率⾮常快速，150℃〜-55℃＜10秒，zui⼤⽓流量：30m³/h；

实时监控被测IC真实温度,实现闭环反馈，实时调整⽓体温度升降温时间可控，程序化操作、⼿动操作、远程控制

　　半导体在线试温度冲击系统是一种高低温测试装备，可以模拟不同温度下的性能效果，那么，用户在使用半导体在线试温度冲击系统的时候要注意哪些呢？

　　1、温度范围：根据实际需要，半导体在线试温度冲击系统的温度范围可以从低温度到高温度，温度范围为-125℃~200℃。

　　2、温度稳定性：半导体在线试温度冲击系统的温度稳定性是衡量其性能的指标。一般来说，温度稳定性越高，测试结果的可靠性就越好。

　　3、升降温速率：半导体在线试温度冲击系统的升降温速率也是关键参数。快速升降温可以缩短测试时间，提升效率。然而，过快的升降温速率可能会导致对测试样品产生过大的热冲击，影响测试结果。因此，选择合适的升降温速率需要根据具体的测试需求来决定。

　　4、样品尺寸：半导体在线试温度冲击系统可以容纳的样品尺寸也是需要考虑的因素。对于大型半导体器件，需要选择能够容纳相应尺寸的测试机。对于小型样品，则需要选择适应该尺寸的测试机。

　　5、气体环境控制：一些半导体在线试温度冲击系统还具备气体环境控制功能，可以模拟不同的气体环境，如真空、氮气、氧气等，以满足不同测试需求。

　　6、可靠性：半导体在线试温度冲击系统需要在长时间内持续稳定运行，因此可靠性是选择测试机时需要考虑的重要因素。选择具有良好口碑和售后服务的品牌可以保证设备的可靠性。