树脂粒子分析仪 (PA66)

模块化的OCS树脂粒子分析仪 (PA66)由以下部分组成：

■粒子黑点杂质检测仪 (PS25C）可以检测出与产品颜色有偏差的杂质

■粒子尺寸和形状分布测试仪 (PSSD）根据颗粒的形态特性对粒子进行分类，如大粒、小粒、联粒、拖尾、丝发、碎屑/粉尘等。

■色度测量仪（CM3）根据记录的色谱测量相关的色度值（黄度指数、白度指数、CIE L*a*b*等）（选项）

另一个优势是可将实时结果的数据传输到控制室 DCS 进行生产和工艺控制。

可测试的原材料

■高透明粒子

■不透明粒子

包括以下设备

■OCS 粒子黑点杂质检测仪 (PS25C)

■OCS 粒子尺寸和形状分布测试仪 (PSSD)

PS25C 特点

■高性能3CMOS彩色矩阵相机

■可检测到的zui小杂质尺寸：10μm

■处理量可达25 公斤/小时，根据具体材料性能差异而不同

■结果实时可视化用于分拣缺陷颗粒的多弹片分拣系统

PSSD特点

■高速CMOS线扫描相机（单色）

■可检测到的zui小杂质尺寸： 71 μm

■处理量可达18 公斤/小时，根据具体材料性能差异而不同

■结果实时可视化 (通过PS25C)