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蔡司 Xradia 410 Versa显微镜

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北京中显恒业仪器仪表有限公司(简称:北京中显)是一家位于首都北京的科学仪器提供商。北京中显致力于把沿的科技和先进的仪器设备引进中国,以科学严谨的理念为中国用户提供科学、专业、高性价比的解决方案。
    北京中显成立于2010年,有12年的显微光学服务经验,除国产四大进口品牌显微镜外,还代理销售多家国产品牌显微镜,积累了大量的行业应用和显微镜用户。北京中显拥有国内外多家科学仪器的代理权,是加拿大形创(Creaform 3D彩色扫描仪)的授权代理商。北京中显服务的客户涵盖传统制造、航空、航天、船舶、机械、电子、铸造、冶金、电力、石化、地质等行业,在高等院校、科研院所、考古文博、质量检测、刑侦物证、装备制造、工矿企业、工业材料、军工系统、汽车零配件等领域都有我们长期服务的客户。北京中显积极响应“中国制造2025”强国战略的号召,整合全球智力资源,引进欧美先进科技,为中国制造业的提升和伟大复兴的“中国梦”实现努力做出自己的贡献。
    北京中显自2010年成立以来,通过自身过硬的实力和周到的服务迅速赢得了广大客户的认可,清华大学、北京大学、中科院大学、北京科技大学、中国地质大学、中国矿业大学、中国公安大学、北京理工大学、北京航空航天大学、山东大学、中国海洋大学、河北大学、河北地质大学、华北理工大学、山西大学、太原理工大学、郑州大学、河南大学、河南理工大学、河南科技大学、青岛科技大学等院校及公安部物证中心、河南省公安厅、中国地质科学院、中科院天文台、故宫博物院、河南省文物考古研究院等政府和科研单位及中航工业科技集团、宇通客车、长城汽车、平高电气、奔驰汽车、济南重汽、富士康、中通客车、宇通客车、洛阳一拖、洛阳轴承等企业都是北京中显长期服务的优质客户。北京中显多次在政府采购和企业招标采购中成为中标供应商。
    在新时代,北京中显将在现有的科学仪器专业提供商基础上增加科技元素,向科技型、服务型公司转型。通过不断探索和持续创新,为广大用户提供更先进、更个性化的解决方案。
    北京中显自成立伊始就坚持“为天地立心、为生民立命、为往圣继绝学、为万世开太平”的经营理念,在合法经营、照章纳税、提供就业的同时也不忘回报社会,公司积极参与社会公益。为响应国家精准扶贫政策,北京中显通过甘肃兴华青少年助学基金会和清华大学研究生助教团定点长期资助河南省南召一中和青海省湟中一中资助优秀贫困高中生各一名。北京中显还长期资助“爱心包裹”活动,中国扶贫基金会多次向颁发荣誉证书,这是国家对我公司长期从事慈善事业的肯定与鼓励。2019年,经河北省驻京办推荐和考核北京中显成为北京河北企业商会常务副会长单位。

徕卡体视显微镜,徕卡偏光显微镜,徕卡金相显微镜,形创3D扫描仪

产地类别 进口 应用领域 综合

 蔡司 Xradia 410 Versa显微镜总体描述

 蔡司 Xradia 410 Versa显微镜高性能三维 X 射线显微镜技术解决方案与传统低成本、低性能且基于投影的计算机断层扫描(CT)系统之间的空白。多种射线源的选择可灵活应对多种样品尺寸和样品类型的成像应用。
蔡司 Xradia 410 Versa

技术参数:

Xradia Versa 显微镜架构运用了两级放大倍率技术,从而让您不受工作距离的限制,始终保持较高空间分辨率(RaaD)。在第一级中,使用传统 micro-CT 系统借助几何放大倍率来放大样品图像。在第二级中,闪烁器会将 X 射线转换成可见光,然后再进行光学放大。降低对几何放大倍率的依赖使 Xradia Versa 显微仪器可以在较长工作距离内保持亚微米分辨率,从而让您能够更高效地研究不同大小的样品,包括在原位样品室内。
无损三维成像,更大限度保护和扩展贵重样品的利用率
<0.9 µm 的空间分辨率和 100 nm 体素大小
适用于低原子序数材料和软组织的先进成像衬度解决方案
业界四维和原位成像技术,适用于不同尺寸和材料类型的样品
搜索和扫描(Scout-and-Scan™)功能可实现多用户环境下的简化工作流程
大负荷样品台、扩展的光源及探测器行程
几乎无样品制备需求
通过多级放大探测器实现轻松导航
利用自动多点断层成像和重复扫描实现连续操作
高速重构
可选配的Versa原位辅助装置支持环境样品舱内(如线缆和管线)的配套设施,为实现原位实验更高3D分辨率提供更优异的成像性能和轻松设置
可选配的自动进样系统可编程和同时运行多达14个样品,提高了生产效率,全自动工作流程可用于大体积扫描


特点:

业界四维和原位成像性能,适用于多种样品尺寸和样品类型
Xradia 410 Versa X 射线显微镜为多种样品和研究环境提供了经济灵活的 3D 成像解决方案。无损X射线成像技术确保了贵重样品的利用率。这款显微镜可以实现900 nm的真实空间分辨率和100 nm 的可实现体素。先进的吸收和相位衬度技术(可用于软材料和低原子序数材料)提供了更多的功能克服传统计算机断层扫描技术的局限性。

Xradia Versa 超越了传统微米 CT 和纳米 CT 系统的限制,为拓展您的研究打下坚实的基础。传统断层扫描技术仅依赖于单级几何放大,而Xradia 410 Versa 依靠同步辐射的光学器件,采用了蔡司两级放大技术。Xradia Versa系列拥有灵活的衬度、高易用性和蔡司突破性的大工作距离下的高分辨率(RaaD)特性,实现在实验室中对各种类型和尺寸的样品和多种应用进行探索。多尺度范围成像功能可以对同一样品进行大范围的多倍率成像,使其能表征材料随时间(4D)或在模拟的环境条件下(原位)的演化。

另外,搜索和扫描控制系统(Scout-and-Scan)可根据不同的设置实现多种工作流程环境,使得Xradia 410 Versa方便不同经验水平的用户使用。




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