YP-NL 树木年轮分析仪

优云谱树木年轮分析仪介绍

YP-NL年轮图像分析系统是一款多平台图象分析系统，与扫描仪匹配，专门对盘状的木材截面或柱状的生长锥样本进行树木年轮的测量。

大型木材样本可在不同部位多次分别成像；特殊的树芯定位器用以放置柱状样本；两种自动测定年轮的方法分别适用于不同的树木类型；人工辅助的图像识别校正和遗漏像素添加功能；

此外YP-NL可自动设置裂缝与年轮角度的切线，以保证测量的精准性；另外，附加功能可进行植物的标准生长分析，如茎干平均半径、直径以及总体截面积；树木高度、体积、树龄等。对于所分析的年轮图像可同时显示如下参数：年轮宽度、早材/夏材宽度、年轮最大/最小密度/平均密度、早材/夏材等。

优云谱树木年轮分析仪测量参数

年轮基本测量参数：年轮计数，年轮环宽度，早材/晚材宽度，年轮环角度（弧度）等。

树木圆盘测量参数：圆盘面积，周长，平均直径，形状因子，孔隙面积，年轮技术等。

应用领域

广泛应用于植物学、植物生理学、林学、树木学、森林生态学等领域。

主要技术参数

水平或垂直方向测量年轮、沿直线方向测量年轮（单节）、年轮宽度测量、自动年轮监测方式（强度不同）、忽略缺口部分、边材宽度测量、估算丢失的年轮、以各种方向测量年轮、测量复杂形状的样品年轮（多节）、添加相关年轮、早材晚材宽度测量、每环的反射光测量（最大值、最小值、平均值、方向）、存储最后部分年轮、可自定义一些参数（例如：名字、类型等）、图像编辑、批量分析。