370A泰克晶体管测试仪370B

370A泰克晶体管测试仪370B   

370A泰克晶体管测试仪370B 

深圳佳捷伦电子仪器有限公司

158=8930=0166/135=1050=0080 V同

370A程控特性曲线图示仪

370A是的高分辨率特性曲线图示仪，可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅、场效应管、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。

在研发实验室，用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作。  

Tektronix泰克370A晶体管测试仪

附加的功能：

半导体器件的高精度测量

高达 2000 伏或 10 安的电源

高达 220 瓦

1 纳安测量分辨率

低至 2 毫伏的测量分辨率

波形比较

信封显示

波形平均

点光标

开尔文感应测量

可编程

3.5 英寸 MS DOS 兼容磁盘存储，用于保存和调用设置

泰克 370A 可编程曲线跟踪器是一款高分辨率曲线跟踪器，可在高达 2000 V 或 10 安培、高达 200 瓦、低至 1 纳安/2 毫伏测量分辨率的范围内对半导体器件进行高精度测量。它还具有波形比较和平均功能。

详细说明 

TEK370A晶体管测试仪TEK370B主要参数：

·半导体器件高精度测量

-上限达2000V或电流到10A的源（370A）

-上限到3000V（371A） 

-上限到220W（370A）

-上限到400A（371A） -1nA的测量分辨率 

-上限到3000W（371A） ·

上限到2mV的测量分辨率（370A） 

波形对比 ·包络显示 ·波形平均 

点光标（370A） ·Kelvin传感测量 

全程控 ·MS-DOS兼容的软盘，方便设置参孝存储和调用应用手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量来料检查生产测试过程监视及质量控制数据报告的生成元件配对失效分析工程测试交互式程控所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式，调整和存储操作参数，包括370A的非易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。测试夹具测试夹具是标准附件，它提供被测器件安全防护，以保护测量人员的安全。测试夹具适应标准的A1001，中间通过Kelvin传感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。 370A程控特性曲线图示仪 370A是高分辨率特性曲线图示仪，可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅、场效应管、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。在研发实验室，用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作在制造过程中，用370A检验器件质量及过程监视。 370A可进行来料检查、器件性能测试、失效分析和器件配对这些测试工作。

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