VDL-01 非破坏性无损成品密封检测仪

西奥机电 非破坏性无损成品密封检测仪

西奥机电 非破坏性无损成品密封检测仪采用真空衰减原理对成品包装进行微泄漏检测，适用于微量泄漏检测、各种包装容器完整性检漏。可应用于安瓶、西林瓶、HDPE瓶、预充针等医药包装、食品包装、化工行业包装的泄漏检测。仪器具有非破坏性、无损、:无需样品准备等优点。对比传统的色水法、微生物挑战法检测泄漏，真空衰减法是效率高、无损的物理检测方法。是生产企业、检验机构、科研院所对药品、食品包装泄漏检测的最佳设备.

测试原理

基于真空衰减法测试原理，将微泄露密封性测试仪主机连接到一个特别设计用来容纳需要被测试的包装物的测试腔内。仪器对测试腔进行抽真空，包装物内外形成压力差，在压力的作用下包装物内气体通过漏孔扩散至测试腔内，高精度传感器检测时间和压力的变化关系，与标准值进行比较，判断试样是否泄漏。

技术特征

7英寸人机交互系统方便参数设置及试验操作

PLC可编程控制系统实现精准的压力和时间控制

同一测试腔配合扩展模块可测试不同规格样品

采用进口真空元器件及传感器，性能稳定

数据准确采用非破坏性检测方法

测试后样品无损伤满足基于GMP要求的三级权限管理

提供微型流量校准器，校准过程更简单方便

技术参数

真空度 : 0.01~100KPa( 绝压 )

分辨率: 0.1Pa

检测灵敏度: 1~3um测试压力: 可设定

测试时间: 30s ( 测试时间可设定 测试腔: 根据样品规格定制

真空来源: 外置真空泵

标准

YY/T0681.18-2020、ASTM F2338-2009(2013)、美国药典

配置

主机、测试腔1套、微型流量校准器、真空泵( 选购

济南西奥机电有限公司 注： 西奥机电始终致力于产品性能和功能的创新及改进，基于该原因，产品技术规格亦会相应改变。上述情况恕不另行通知，本公司保留修改权与最终解释权。